Wpływ rezystancji termicznej na parametry elektrooptyczne i termiczne diod laserowych

• Autorzy: Dąbrowska E. , Kozłowska A. , Teodorczyk M. , Sobczak G. , Krzyżak K. , Kalbarczyk J. , Maląg A.

Warianty tytułu

EN

Influence of thermal resistance on electro-optical and thermal parameters of laser diodes

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 10 ; 05-09.06.2011 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono przesuwanie się charakterystyk spektralnych przy stałej repetycji i wydłużającym się czasie impulsu dla diod laserowych różniących się rezystancją termiczną. Zarejestrowano wzrost temperatury złącza DL po włączeniu impulsu prądowego poprzez dynamiczne (z rozdzielczością czasową) pomiary spektralne przy pomocy kamery ICCD. Stwierdzono, że czym większe przesunięcie charakterystyk spektralnych w czasie trwania impulsu o długości 1 ms w pomiarach dynamicznych tym większe przesunięcie charakterystyk spektralnych w czasie pomiarów przy stałej repetycji i zwiększającym się czasie trwania impulsu i tym większa rezystancja termiczna DL. Przy pomocy kamery termowizyjnej sprawdzono temperaturę diody przy pracy ciągłej w płaszczyźnie równoległej do luster. Widoczne miejsca gorące odpowiadają obniżeniom intensywności w profilu NF.

EN

In this paper, the shift of spectral characteristics measured at the constant pulse repetition and various pulse duration for laser diodes with various thermal resistances has been presented. Temperature increase of LD's p-n junction during current pulse was investigated by dynamic (time-resolved) spectral measurements using ICCD camera made. It has been demonstrated that LDs with larger thermal resistance have larger spectral shift during 1 ms long pulse in dynamic measurements and in the measurements at a constant pulses repetition with variable pulse duration. Measurements by thermal camera show diode temperature distributions in mirror plane during continuous operation. The hot spots revealed by thermal camera correspond with lower intensity points in near field distributions.

Słowa kluczowe

PL

dioda laserowa; rezystancja termiczna; złącze p-n; pomiary termowizyjne; pomiary dynamiczne; charakterystyka spektralna

EN

laser diode; thermal resistance; p-n junction; thermovision measurement; dynamics measurements; spectral characteristics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 10
• Strony: 95--98
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wykr.

Twórcy

autor

Dąbrowska E.

autor

Kozłowska A.

autor

Teodorczyk M.

autor

Sobczak G.

autor

Krzyżak K.

autor

Kalbarczyk J.

autor

Maląg A.

• Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, Zakład Optoelektroniki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Leers M., K. Boucke, M. Gotz, A. Meyer, M. Kelemen, N. Lehmann, F. M. di Sopra: Thermal resistance in dependence of diode laser packages. Proc. of SPIE, vol. 6876, 687609, 2008.
• [2] Paoli T. S.: A New Technique for Measuring the Thermal Impedance of Junction Lasers. IEEE Journal of Quantum Electronics, 11 (1975), nr 7, 498-503.
• [3] Voss M., C. Lier, U. Menzel, A. Bärwolff, T. Elsasser: Time-resolved emission of GaAs/AlGaAs laser diode arrays on different heat sinks. J. Appl. Phys. 79 (1996), nr 2, 1170-1172.
• [4] Tomm J. W., E. Thamm, A Bärwolff: Facet degradation of hihg-power diode laser arrays. Appl. Phys. A 70, 377-381, 2000.