Optyczne właściwości supersieci GaAs/AlGaAs badane za pomocą spektroskopii modulacyjnej

• Autorzy: Janiak F. , Motyka M. , Sęk G. , Ryczko K. , Misiewicz J. , Kosiel K. , Bugajski M.

Warianty tytułu

EN

Optical properties of GaAs/AlGaAs superlattices investigated by modulation spectroscopy

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 10 ; 05-09.06.2011 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Spektroskopię modulacyjną- fotoodbicie zastosowano do badania optycznych i strukturalnych właściwości supersieci AlGaAs/GaAs. Otrzymano widma fotoodbiciowe bogate w linie spektralne związane z procesami absorpcji między poszczególnymi stanami kwantowymi w badanych supersieciach. Zmierzone linie spektralne zidentyfikowane zostały na podstawie obliczeń struktury pasmowej w modelu masy efektywnej. Przeprowadzone pomiary pozwoliły potwierdzić założone w procesie wzrostu składy i grubości poszczególnych warstw studni i barier. Ponadto wykazano bardzo dużą jednorodność wytwarzanych 2-calowych płytek jak również wysoką powtarzalność procesów technologicznych.

EN

Modulation spectroscopy - photoreflectance has been applied for optical investigation of AlGaAs/GaAs superlattices. Optical features obtained in photoreflectance spectra associated with the transitions between confined levels in investigated superlattices have been recognized and analyzed by calculation performed in effective mass approximation formalism. In addition, there has been demonstrated a high uniformity of investigated 2 inch wafers and also high repeatability of the growth process.

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia modulacyjna; fotoodbicie; supersieci; lasery kaskadowe; epitakcja z wiązek molekularnych; półprzewodniki III-V

EN

modulation spetroscopy; photoreflectance; superlattices; cascade lasers; molecular beam epitaxy; III-V semiconductor

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 10
• Strony: 46--48
• Opis fizyczny: Bibliogr. 16 poz., wykr.

Twórcy

autor

Janiak F.

autor

Motyka M.

autor

Sęk G.

autor

Ryczko K.

autor

Misiewicz J.

autor

Kosiel K.

autor

Bugajski M.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Fizyki

Bibliografia

• [1] Faist J., F. Capasso, D. L. Sivco, C. Sirtori, A. L Hutchinson and A. Y. Cho: Science 264, 553 (1994).
• [2] Sirtori C., P. Kruck, S. Barbieri, P. Collot, J. Nagle, M. Beck, J. Faist and U. Oesterle: Appl. Phys. Lett. 73, 3486 (1998).
• [3] Page H., C. Becker, A. Robertson, G. Glastre, V Ortiz, C. Sirtori: Applied Physics Letters, vol. 78,. 3529 (2001).
• [4] Kosiel K., J. Kubacka-Traczyk, P. Karbownik, A. Szerling, J. Muszalski, M. Bugajski, P. Romanowski, J. Gaca, M. Wójcik: Microelectronics Journal, 40 (2009) 565-569.
• [5] Kosiel K., J. Muszalski, A. Szerling, M. Bugajski, R. Jakieła: Vacuum 82 (2008) 383-388.
• [6] Pollak F. H. in: Handbook on Semiconductors, edited by T. S. Moss, vol. 2, Elsevier Science, Amsterdam, (1994), pp. 527-635.
• [7] Glembocki O. J. and B. V. Shanabrook: Photoreflectance spetroscopy of microstructures. in D. G. Seller, C. L. Littler (Eds.). Semiconductors and Semimetals' Vol. 36, Academic Press, New York, (1992), p. 221.
• [8] Misiewicz J., R. Kudrawiec, K. Ryczko, G. Sek, A. Forchel. J C. Harmand, M. Hammar: J. Phys. Cond. Mat. 16, 3071 (2004).
• [9] Misiewicz J., G. Sek, R. Kudrawiec, P. Sitarek: Thin Solid Films 450, 14, (2004). prc
• [10] Misiewicz J., P. Sitarek, G. Sek, and R. Kudrawiec: Materials Science 21,264 (2003).
• [11] Motyka M., R. Kudrawiec, G. Sek, J. Misiewicz, I. L. Krestnikov and A. Kovsh: Semic. Sci. and Technol., 21 (2006) 1402-1407.
• [12] Motyka M., R. Kudrawiec, J. Misiewicz, M. Hümmer, K Rößner, T. Lehnhardt, M. Müller, and A. Forchel: J. Appl. Phys. 103, 113514 (2008).
• [13] Kudrawiec R., M. Motyka, J. Misiewicz, M. Hümmer. K. Rößner, T. Lehnhardt, M. Müller, and A. Forchel: Appl Phys. Lett 92, 041910 (2008).
• [14] Kudrawiec R., B. Paszkiewicz, M. Motyka, J. Misiewicz, J. Derluyn, A. Lorenz, K. Cheng, J. Das, and M. Germain: J. Appl. Phys. 104, 096108(2008).
• [15] Kudrawiec R., H. B. Yuen, S. R. Bank, H. P. Bae, M. A. Wistey, James S. Harris, M. Motyka, and J. Misiewicz: J. Appl. Phys. 104, 033526 (2008).
• [16] Bastard G.: Wave mechanics applied to semiconductor Heterostructures. EDP Sciences 1992.