PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Konstrukcja i badania interferometru laserowego bazującego na elementach dyfrakcyjnych dedykowanego do pomiarów M(O)EMS

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The construction and the tests of diffractive element based laser interferometer for inspection of M(O)EMS
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono opis i badania demonstratora interferometru laserowego w konfiguracji Twymana-Greena przeznaczonego do charakteryzacji elementów M(O)EMS. Konstrukcja urządzenia opiera się na wykorzystaniu siatek dyfrakcyjnych, odpowiednio zamodelowanych i zoptymalizowanych do funkcji pełniących w interferometrze. Siatki, po oświetleniu płaską wiązką wytworzoną przez diodę laserową i kolimator, pozwalają na odpowiednie prowadzenie wiązki w układzie, podział amplitudy na wiązkę przedmiotową i referencyjną, uformowanie czoła referencyjnego po odbiciu od struktury referencyjnej i łączenie obu wiązek powracających po odbiciach. Specjalna kompaktowa konstrukcja urządzenia pozwala na jego multiplikację i stworzenie wielokanałowej głowicy do jednoczesnego pomiaru kilkunastu badanych obiektów.
EN
Below we present the new approach towards microsystems characterization at wafer level developed under EU project "SMART InspEction system for High Speed and multifunctional testing of MEMS and MOEMS" (SMARTIEHS). The goal of the project is to provide fast, cost effective and flexible optical inspection system. Two different interferometer approaches are pursued in the project's development process: a refractive optics based on Mirau type Iow coherence interferometer and a diffractive optics based on Twyman-Green laser interferometer. Below we present the design and the tests of the interferometer Twyman-Green. The multifunctional approach of the laser interferometer measurement concept allows within one instrument to inspect MEMS shape and deformation as well as to characterize a spatial distribution of out-of-plain amplitude of vibration at a resonance frequency. The interferometer architecture requires custom designed diffractive optical elements.
Rocznik
Strony
157--159
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., wykr.
Twórcy
autor
autor
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Mikromechaniki i Fotoniki
Bibliografia
  • [1] www.ict-smartiehs.eu
  • [2] Gastinger K. i in.: SMARTIEHS-Smart inspection system for high-speed and multifunctional testing of MEMS and MOEMS. 14th Micro Optics Conference 2008 (MOC'08), Brussels, Belgium, 2008.
  • [3] Osten W.: Optical inspection of Microsystems, Taylor and Francis, New York, 2006.
  • [4] Górecki C., Józwik M., Sałbut L.: Multifunctional interferometric platform for on-chip testing the micromechanical properties of MEMS/MOEMS. Journal of Microlithography, Microfabrication, Microsystems. 4 (4). 2005. 1-10.
  • [5] Józwik M. i in.: Optical design of a DOE-based laser interferometer for inspection of MEMS/MOEMS. Proc. The 6th Int. Workshop on Advanced Optical Metrology FRINGE'09. 2009. 85-88.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAW-0005-0046
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.