Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT

• Autorzy: Wierzba P.

Warianty tytułu

EN

Fast electro-optical sampling devices using ferroelectric PLZT ceramics

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Optyczne próbkowanie sygnałów elektrycznych może w niedługiej przyszłości stać się cennym uzupełnieniem metod akwizycji wykorzystujących bardzo szybkie układy analogowe i przetworniki A/C. W referacie omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.

EN

Optical sampling of electrical signals may soon become a useful signal acquisition technique, complementary to state-of-the-art signal acquisition methods employing very fast analog circuits and analog to-digital converters. In the paper, the design of electro-optical sampling devices using PLZT ceramics is discussed. Issues related to the measurement of key parameters of thin PLZT films are discussed. Techniques for measurement of thickness, refractive index and electro-optic coefficients of PLZT films are presented. Directions of ongoing research are also outlined.

Słowa kluczowe

PL

efekt elektrooptyczny; układy próbkujące; ceramika PLZT; polarymetria; optyczne próbkowanie sygnałów elektrycznych

EN

electro-optic effect; sampling devices; PLTZ ceramics; polarimetry; optical sampling of electric signals

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 6
• Strony: 116--118
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wykr.

Twórcy

autor

Wierzba P.

• Politechnika Gdańska, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych

Bibliografia

• [1] Nagatsuma T.: Photonic measurement technologies for high speed electronics. Measurement Science and Technology. Vol. 13 (2002), no. 11. 1655-1663.
• [2] Valdmanis J. A., Mourou G.: Subpicosecond Electrooptic Sampling: Principles and Applications. IEEE Journal of Quantum Electronics. vol. QE-22 (1986), no. 1. 69-78.
• [3] Łoziński A.: Cienkie ferroelektryczne warstwy PLZT dla zastosowań w szybkich elektrooptycznych układach próbkujących. COE 2010.
• [4] Pluciński J., Strąkowski M., Kosmowski B.: Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych. COE 2010.