Zastosowanie środowiska LabView do weryfikacji sygnałów impulsowych wykorzystywanych w badaniach kompatybilności elektromagnetycznej

• Autorzy: Maćkowiak A. , Sieczkarek K.

Warianty tytułu

EN

Automatic verification of EMC pulse test equipment by means of the LabView programming environment

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem prac przedstawionych w niniejszym artykule było stworzenie aplikacji przeznaczonej do automatycznej weryfikacji aparatury wykorzystywanej do badań kompatybilności elektromagnetycznej, a dokładnie odporności na zaburzenia impulsowe. Do realizacji tego zadania wybrano pakiet LabView, który jest uniwersalnym, modułowym środowiskiem programistycznym, opartym na graficznym interfejsie użytkownika. W artykule przedstawiono analizę wymagań normatywnych, opis środowiska LabView oraz opis aplikacji weryfikacyjnej.

EN

The aim of the article is to show practical possibilities of LabView application in an EMC laboratory. This paper presents advantages and disadvantages of LabView graphical development environment for controlling of electronic equipment in case of electromagnetic compatibility testing. As an example the applications for pulse and burst generator verification are shown.

Słowa kluczowe

PL

kompatybilność elektromagnetyczna; LabVIEW; badania EMC

EN

electromagnetic compatibility; EMC testing; LabView software

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 4
• Strony: 44--47
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Maćkowiak A.

autor

Sieczkarek K.

• Instytut Logistyki i Magazynowania, Poznań

Bibliografia

• [1] EN 61000-4-5 Electromagnetic Compatibility-Testing and measurement techniques-Surge immunity test.
• [2] EN 61000-4-4 Electromagnetic Compatibility-Testing and measurement techniques-Electrical fast transient/burst immunity test.
• [3] EN 61000-4-9 Electromagnetic Compatibility-Testing and measurement techniques-Pulse magnetic field immunity test.
• [4] LabView7 Express-Getting Started with LabVIEW, National Instrument, April 2003 Edition.