Spektroskopia modulacyjna nanostruktur półprzewodnikowych w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni

• Autorzy: Misiewicz J. , Motyka M. , Sęk G. , Kudrawiec R.

Warianty tytułu

EN

Infrared modulation spectrosopy of semiconductor nanostructures

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono wybrane rezultaty badań spektroskopowych realizowanych w Zespole Optycznej Spektroskopii Nanostruktur Instytutu Fizyki Politechniki Wrocławskiej prowadzonych w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni. Przedstawiono możliwości jakie daje stosowanie spektroskopii modulacyjnej do wyznaczania parametrów istotnych przy konstruowaniu urządzeń takich jak np.: lasery półprzewodnikowe. W pierwszej części przedstawiono wyniki badań struktur przeznaczonych na zakres drugiego i trzeciego okna telekomunikacyjnego (1,3...1,55 μm) głównie studni, kropek i kresek kwantowych. W drugiej części omówiono przykłady rezultatów dla studni I i II rodzaju przeznaczonych do zastosowań laserowych w czujnikach gazów (węglowodorów) na zakres 3...3,5 μm. W trzeciej części przedstawiono możliwości prowadzenia badań (spektroskopii modulacyjnej) w obszarze spektralnym powyżej 5 μm (interesującym np.: z punktu widzenia konstrukcji laserów kaskadowych) z zastosowaniem spektrometr Fouriera.

EN

We have shown the results of optical investigation realized in the Group of The Optical Spectroscopy of Nanostructures from Institute of Physics Wrocław University of Technology. The have been shown the advantages and possibilities which the modulation spectroscopy gives in case of investigation performed on Iow dimensional semiconductor structures (i.e. semiconductor lasers). The first port of the paper presents the results of optical investigations performed on quantum wells, dots and quantum dashes designed for telecommunication spectral range (1.3...1.55 μm). In the second part we have shown investigations of type I and II quantum well designed for laser structures in gas sensing application at (3...3.5 μm). In the last part, the opportunities of making modulation spectroscopy with and without Fourier spectrometer experiments above 5 μm spectral range have been discussed.

Słowa kluczowe

PL

spetroskopia modulacyjna; podczerwień; nanostruktura; spektroskopia

EN

modulation; infrared radiation; nanostructure; Fourier spetroscopy

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 50, nr 5
• Strony: 78--83
• Opis fizyczny: Bibliogr. 25 poz., wykr.

Twórcy

autor

Misiewicz J.

autor

Motyka M.

autor

Sęk G.

autor

Kudrawiec R.

• Politechnika Wrocławska, Instytut Fizyki

Bibliografia

• [1] Pollak F. H., in: Handbook on Semiconductors. Edited by T. S. Moss, vol. 2, Elsevier Science, Amsterdam, (1994), pp. 527-635.
• [2] Glembocki O. J., Shanabrook B. V.: Photoreflectance spetroscopy of microstructures. In D. G. Seiler, C. L. Litter. (Eds.), "Semiconductors and Semimetals" Vol. 36, Academic Press, New York, (1992), p. 221.
• [3] Misiewicz J., Kudrawiec R., Ryczko K., Sęk G., Forchel A., Harmand J. C., Hammar M.: J. Phys. Cond. Mat. 16, 3071 (2004).
• [4] Misiewicz J., Sęk G., Kudrawiec R., Sitarek R.: Thin Solid Films 450,14, (2004).
• [5] Misiewicz J., Sitarek R., Sęk G., Kudrawiec R.: Materials Science 21, 264 (2003).
• [6] Motyka M., Kudrawiec R., Sęk G., Misiewicz J., Krestnikov I. L., Kovsh A.: Semic. Sci. and Technol., 21 (2006) 1402-1407.
• [7] Kudrawiec R., Motyka M., Gładysiewicz M., Sitarek P., Misiewicz J.: App. Surf. Sci. 253 (2006) 266-270.
• [8] Motyka M., Kudrawiec R., Misiewicz J.: Phys. Stat. Sol. A, 204, (2), 354-363 (2007).
• [9] Kudrawiec R., Gupta J. A., Motyka M., Gładysiewicz M., Misiewicz J., Wu X.: Appl. Phys. Lett. 89, 171914 (2006).
• [10] Kudrawiec R., Gładysiewicz M., Misiewicz J., Yuen, Bank S. R., Wistey M. A., Bae H. P.: James S. Harris, Jr, Phys. Rev. B 73, 245413 (2006).
• [11] Kudrawiec R., Motyka M., Gładysiewicz M., Misiewicz J., Yuen H. B., Bank S. R., Bae H. P., Wistey M. A., Harris Jr James S.: Appl. Phys. Lett. 88, 221113 (2006).
• [12] Kudrawiec R., Yuen H. B., Motyka M., Gładysiewicz M., Misiewicz J., Bank S. R., Bae H. P., Wistey M., Harris J. S.: J. Appl. Phys, 101, 013504 (2007).
• [13] Kudrawiec R., Yuen H. B., Bank S. R., Bae H. P., Wistey M. A., Harris James S., Motyka M., Misiewicz J.: J. Appl. Phys. 104, 033526 (2008).
• [14] Kudrawiec R., Yuen H. B., Bank S. R., Bae H. P., Wistey M. A., Harris James S., Motyka M., Misiewicz J.: Appl. Phys. Lett. 90, 061902, (2007).
• [15] Motyka M., Kudrawiec R., Sęk G., Misiewicz J., Bisping D., Marquardt B., Forchel A.: J. Appl. Phys. 101, 113539 (2007).
• [16] Motyka M., Kudrawiec R., Sęk G., Misiewicz J., Bisping D., Marquardt B., Forchel A.: Appl. Phys. Lett. 90, 221112 (2007).
• [17] Motyka M., Sęk G., Ryczko K., Andrzejewski J., Misiewicz J., Li L. H., Fiore A., Patriarche G.: Appl. Phys. Lett. 90,181933 (2007).
• [18] Sęk G., Poloczek P., Podemski P., Kudrawiec R., Misiewicz J., Somers A., Hein S., Höfling S., Forchel A.: Appl. Phys. Lett. 90, 081915 (2007).
• [19] Podemski P., Sęk G., Ryczko K., Misiewicz J., Hein S., Höfling S., Forchel A., Patriarche G.: Appl. Phys. Lett. 93,171910 (2008).
• [20] Kudrawiec R., Motyka M., Misiewicz J., Somers A., Schwertberger R., Reithmaier J. P., Forchel A.: J. Appl. Phys. 101, 013507 (2007).
• [21] Kudrawiec R., Motyka M., Misiewicz J., Hummer M., Rößner K., Lehnhardt T., Müller M., Forchel A.: Appl. Phys. Lett. 92, 041910 (2008).
• [22] Motyka M., Kudrawiec R., Misiewicz J., Hummer M., Rößner K., LehnhardtT., Müller M., Forchel A.: J. Appl. Phys. 103, 113514 (2008).
• [23] Motyka M., Sęk G., Ryczko K., Janiak F., Misiewicz J., Belahsene S., Boissier G., Rouillard Y.: Praca wystana do Appl. Phys. Lett.
• [24] Motyka M., Sęk G., Ryczko K., Misiewicz J., Lehnhardt T., Hoefling S., Forchel A.: Praca wysłana do Appl. Phys. Lett.
• [25] Hosea T. J. C, Merrick M., Murdin B. N.: Phys. Stat. Sol. (A) 202, 1233(2005).