Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobuzenia testującego analogowe układy elektroniczne

• Autorzy: Grzechca D. , Golonek T. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

EN

The use of simulated annealing to optimal excitation selection of analog electronic circuits

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowano heurystyczną metodę optymalizującą liczbę pobudzeń testujących analogowe układy elektroniczne. Algorytm symulowanego wyżarzana został użyty jako silnik poszukiwania pobudzenia wejściowego. Wysokiej jakości test powinien mieć minimalną liczbę częstotliwości pobudzeń testowych na wejściu przy wysokiej testowalności i diagnozowalności analogowych układów elektronicznych. Przedstawione rozwiązanie pozwala odseparować układy uszkodzone od nieuszkodzonych (test go/no-go) oraz. lokalizować uszkodzone elementy. Algorytm został zaimplementowany w układzie Virtex-4 ML 403, co pozwala zastosować wymienioną platformę jako urządzenie niezależne (standalone).

EN

This paper presents heuristic optimization method to analog circuit fault test frequency selection. Simulated annealing as a search engine is applied to find stimuli excitations. The high quality test requires minimum number of stimuli frequencies, high testability and diagnosability. The algorithm produces excitations that separates faulty and healthy circuits (go/no go test) and locates a faulty element (diagnosability) in a cirucit under test. Proposed approach is verified by simulated annealing algorithm with weighted energy function. Moreover, all algorithms are implemented and tested on the Xilinx Virtex-4 ML403 PPC Platform as a standalone application.

Słowa kluczowe

PL

wyżarzanie symulowane; optymalizacja pobudzenia; testowanie i diagnostyka układów elektronicznych

EN

simulated annealing; optimization of input stimuli; analog circuit testing and diagnosis

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 11
• Strony: 121--124
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., wykr.

Twórcy

autor

Grzechca D.

autor

Golonek T.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Zielonko R., Kowalewski M.: Inteligentne wydobywanie informacji w celach diagnostycznych - Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej DRBF, PWNT 2007.
• [2] Saab K., Hamida N. B., Kamińska B.: Closing the Gap Between Analog and Digital Testing, IEEE Trans. Computer-Aided Design, vol. 20, no 2, pp. 307-314, 2001.
• [3] Rutkowski J.: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych. WKŁ, Warszawa 2003.
• [4] Kirkpatrick S., Gelatt C. D., Vecchi M. P.: Optimization by Simulated Annealing, Science, vol. 220, Number 4598, pp. 671-680, 1983.
• [5] Kamińska B., Arabi K., Bell I., Goteti P., Heurtas J. L., Kim B., Rueda A., Soma M.: Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits - First Release, IEEE International Test Conference, Washington DC, November 1997.