Poprawa skuteczności wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych

• Autorzy: Kuczyński A. , Ossowski M.

Warianty tytułu

EN

Improving efficiency of fault detection in analog circiuits

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowano sposoby poprawy selektywności metody wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych, polegającej na analizie czasowo-częstotliościowej prądu zasilania w stanie nieustalonym. Zaproponowano i zweryfikowano metodę optymalizacji (GA) parametrów transformacji falkowych, obejmującą dobór skali i kształtu falki. Do detekcji błędu zaproponowano współczynnik, który uwzględnia tolerancję elementów układu.

EN

A wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting catastrophic faults in analog circuits is investigated in the paper (IDD). Wavelet transform, having the property of resolving events in both time and frequency domain simultaneously, preserve higher fault detection sensitivity than time-domain or Fourier methods. Some methods for improving this sensitivity are proposed and verified. Genetic algorithms were used to optimize a special goal function enabling us to choose a type and parameters of continuous wavelet transform (CWT).

Słowa kluczowe

PL

diagnostyka uszkodzeń; układy elektroniczne; transformacja falkowa; algorytmy genetyczne

EN

fault detection fault diagnosis; electronic circuits; wavelet transform; genetic algorithms

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 11
• Strony: 108--110
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Kuczyński A.

autor

Ossowski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa

Bibliografia

• [1] Baturone I., Lhuertas J., Sanchez Solano S., Richardson A. M.: Testing Analog Circuits by Supply Voltage and Supply Current Monitoring. Proc. IEEE Customs Integrated Circuit Conference, 1999, pp. 155-158.
• [2] Vinnakota B.: Monitoring Power Dissipation for Fault Detection. Journal of Electric Testing: Theory and Application 11, pp. 173-181.
• [3] Gilen G., Wang Z., Sansen W.: Fault Detection and Input Stimulus Determination for the Testing of Analog Integrated Circuits Based on Power Supply Current Monitoring. IEEE/ACM International Conference on CAD, 1994, pp.495-499.
• [4] Bhunia S., Roy K.: A Novel Wavelet Transform-Based Transient Current Analysis for Fault Detection and Localization. IEEE Transactions on VLSI Systems, vol. 13, no 4, April 2005, pp. 503-507, 2003.
• [5] Graps A.: An Introduction to Wavelets. IEEE Computational Science and Engineering, Summer 1995, vol. 2, no 2., Los Alamitos, USA.
• [6] Frenzel J., Marinos P.: Power supply Current Signature (PSCS) Analysis: A New Approach to System Testing. 1987, International Test Conference, pp. 125-135.
• [7] Kuczyński A., Ossowski M.: Wavelet Analysis for Defect Oriented Testing of Analog Circuits Containing Bipolar Transistors. Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems, September 2006, pp. 557-560, Łódź, Polska.