PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Modelowanie zakłóceń podłożowych w strukturach półprzewodnikowych przy użyciu metody elementów skończonych

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Modelling of substrate noise in semiconducting structures utilizing finite element method
Konferencja
Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Omówiono wyniki symulacji metodą elementów skończonych sprzężenia podłożowego w strukturach półprzewodnikowych, realizowanych na wybranych typach podłoża krzemowego. Symulacje przeprowadzono przy użyciu własnego pakietu do obliczeń metodą elementów skończonych SONMAP opracowanego w Katedrze Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Politechniki Szczecińskiej. Przy użyciu MES i analizy wrażliwościowej możliwe jest prowadzenie procesów optymalizacji kształtu złącz, wysp i innych fragmentów struktur, wpływających na wielkość prądów zakłócających.
EN
In this paper, results of simulation of substrate coupling in semiconducting structures, realized on selected silicon substrate types, utilizing finite element method are presented and discussed. The simulations were performed with the use of software package SONMAP for calculations based on the finite element method developed at Electrotechnics and Computer Sciences Chair of Szczecin University of Technology. Using FEM and sensitivity analysis it is possible to optimize the shapes of junctions, wells and other fragments of structures which have influence on the amount of substrate noise currents.
Rocznik
Strony
79--81
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., rys.
Twórcy
  • Politechnika Szczecińska, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki
Bibliografia
  • [1] Kundert K. et al.: Design of Mixed-Signal Systems-on-a-Chip. IEEE Trans. CAD, vol. 19, No 12, pp. 1561-1571, 2000.
  • [2] Clement F. J. R.: Substrate Noise Coupling Analysis In Mixed-Signal Inc. 2001 Simplex Solutions, Inc., francois@simplex.com.
  • [3] Daniels T.: Meeting the challenges of 90nm SoC design. Proc. IP Based SoC Design, 2002.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAP-0004-0065
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.