PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Evolutionary method for analog test frequencies selection with fuzzy initialization
Konferencja
Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedstawiono ewolucyjną metodę optymalizacji zestawu częstotliwości dla sinusoidalnych pobudzeń, testujących analogowe układy elektroniczne. Proponowana technika wykorzystuje zbiory niejednoznaczności i zmodyfikowany algorytm genetyczny z funkcją przystosowania wykorzystującą zestaw reguł eksperckich systemu rozmytego oraz metodą ważoną. Prezentowane rozwiązanie pozwala uzystać wysoką skuteczność dla praktycznych obwodów z uwzględnieniem rozrzutu tolerancyjnego i błędów pomiarowych. Algorytm został zaimplementowany z wykorzystaniem procesora wbudowanego MicroBlaze na platformie Virtex4 ML-401.
EN
The evolutionary technique of test frequencies selection for analog sinusoidal stimuli set is described in this paper. The proposed method bases on ambiguity set concept and evolutionary algorithm that has been executed for fuzzy and weighted fitness functions. The proposed approach to analog testing allows to achieve high efficiency for practical circuits under test with tolerance dispersions and test inaccuracies presence. Optimization system has been implemented with the use of the MicroBlaze embedded processor on Virtex4 ML-401 platform.
Rocznik
Strony
72--75
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., wykr.
Twórcy
autor
autor
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice
Bibliografia
  • [1] Milor L. S.: A Tutorial Introduction to Research on Analog and Mixed-Signal Circuit Testing. IEEE Trans. on Cir. and Syst.-II, Analog and Dig. Sig. Proces., vol. 45, no 10, pp. 1389-1407, 1998.
  • [2] Hochwald W., Bastian J. D.: A DC dictionary approach for analog fault dictionary determination. IEEE Trans. on Cir. and Syst., vol. 26, pp. 523-529, 1979.
  • [3] Alippi C., Catelani M., Fort A., Mugnaini M.: Automated Selection of Test Frequencies for Fault Diagnosis in Analog Electronic Circuits. IEEE Trans. on Instr. and Measur., vol. 54, no 3, June 2005.
  • [4] Khaled S., Kaminska B., Courtois B., Lubaszewski M.: Frequency-based BIST for analog circuit testing. Proc. of the 13th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 1995, pp. 54-59.
  • [5] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J.: Evolutionary Method for Test Frequencies Selection Based on Entropy Index an Ambiguity Sets. Proc. of Inter. Conf. on Signals and Elect. Sys., ICSES 2006, Poland, pp. 511-514.
  • [6] Golonek T., Rutkowski J.: Genetic-Algorithm-Based Method for Optimal Analog Test Points Selection. IEEE Trans. on Cir. and Syst.-II., vol. 54, no 2, pp. 117-121, 2007.
  • [7] Goldberg D. E.: Genetic Algorithms in Search/Optimization and Machine Learning. Addison Wesley, 1989.
  • [8] Michalewicz Z.: Genetic Algorithms + Data Structures = Evolution Programs. Springer-Verlag, Berlin, 1996.
  • [9] Grzechca D., Rutkowski J.: Use of Neural Network and Fuzzy Logic to Time Domain Analog Testing. ICONIP'02, International Conference on Neural and Image Processing, Singapore 2002, Singapore, pp. 2601-2605.
  • [10] Zadeh, L. A.: Fuzzy sets. Information and Control, vol. 8, pp. 338-353, 1965.
  • [11] Mamdani M. H.: Application of Fuzzy Logic to Approximate Reasoning Using Linguistic Synthesis. IEEE Transaction on Computers, vol. C-26, Issue 12, pp. 1182-1191, 1977.
  • [12] Piegat A.: Modelowanie i sterowanie rozmyte. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 1999.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAP-0004-0063
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.