Metoda i podsystem do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym

• Autorzy: Pawłowski P.

Warianty tytułu

EN

A method and subsystem for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda ta może znaleźć zastosowanie do badania przebiegów zakłóceń, m.in. podłożowych oraz rozchodzących się w liniach zasilania, a także w testowaniu poprawności funkcjonalnej i aktywności bloków.

EN

In this paper, a measurement support method for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits is proposed and characterized. This paper also shows the concept of subsystem supporting the measurement of waveforms of such type, which can realize this method practically and is adapted to the main limitations connected with its implementation on the common, silicon substrate with the noise source. This method can be employed for testing of fast, repetitive waveforms, e.g. switching noise waveforms from substrate and supply/ground lines, as well as for testing the functional correctness and switching activity of digital blocks.

Słowa kluczowe

PL

testowanie układów scalonych; mieszane analogowo-cyfrowe układy scalone SoC; zakłócenia podłożowe; sprzężenie podłożowe; badanie zakłóceń podłożowych

EN

integrated circuits testing; mixed analog-digital integrated circuits SoC; substrate noise; substrate coupling; substrate noise investigation

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 11
• Strony: 47--50
• Opis fizyczny: Bibliogr. 2 poz., wykr.

Twórcy

autor

Pawłowski P.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Elektroniki i Informatyki

Bibliografia

• [1] Shepard K. L., Zheng Y.: On-chip oscilloscopes for noninvasive time-domain measurement of waveforms. Proc. Int. Conf. on Computer Design: VLSI in Computers & Processors (ICCD'01), 2001.
• [2] Takamiya M., Mizuno M.: A Sampling Oscilloscope Macro toward Feedback Physical Design Methodology. IEEE Symp. on VLSI Circuits Digest of Technical Papers, pp. 240-243, 2004.