Metoda wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach tranzystorowych

• Autorzy: Tadeusiewicz M. , Hałgas S. , Sidyk P.

Warianty tytułu

EN

Soft fault diagnosis of transistor circuits

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 6 ; 11-13.06.2007 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Praca dotyczy badania uszkodzeń wielokrotnych o charakterze parametrycznym w układach tranzystorowych prądu stałego. Przedstawiono nową metodę potestową lokalizacji i identyfikacji uszkodzonych elementów przy ograniczonym dostępie do punktów testowych. W badaniach symulacyjnych uwzględniono silne nieliniowości wprowadzane przez tranzystory bipolarne. Metoda nie stawia bardzo rygorystycznych wymagań w zakresie dokładności pomiarowych. Może być uogólniona na obszerną klasę analogowych układów elektronicznych. Przytoczono przykład liczbowy ilustrujący zaproponowaną metodę i potwierdzający jej skuteczność.

EN

A method for multiple fault diagnosis in DC transistor circuits is developed in this paper. It deals with soft-faults, belongs to the class of simulation after test methods and gets along with strong nonlinearities introduced by the bipolar transistors. The method enables us to identify faulty elements and evaluate their values in the circuits with very limited accessible terminals for excitation and measurement. It does not require very high measurement precision. The method can be generalized to a broad class of electronic circuits. A numerical example illustrates the proposed approach and shows its efficiency.

Słowa kluczowe

PL

diagnostyka; układy tranzystorowe; uszkodzenia wielokrotne

EN

fault diagnosis; multiple faults; transistor circuits

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 11
• Strony: 31--33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz.

Twórcy

autor

Tadeusiewicz M.

autor

Hałgas S.

autor

Sidyk P.

• Politechnika Łódzka, Wydział Elektrotechniki, Elektroniki Informatyki i Automatyki

Bibliografia

• [1] Ozawa T.: Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis. New York: Marcel Dekker, 1988.
• [2] Rutkowski J., Macura A.: Multiple Fault Location in AC Circuits. IEE Proc. Part G, 133, pp. 279-284, 1986.
• [3] Kim D. S., Seong P. H.: Automatic Fault Diagnosis Method for Resistive Networks Using Multiple Excitations. Int. J. Cir. Theor. Appl., vol. 24, pp. 467-477, 1996.
• [4] Fedi G., Manetti S., Piccirilli M. C., Starzyk J. A.: Determination of an Optimum Set of Testable Components in the Fault Diagnosis of Analog Linear Circuits. IEEE Trans. Circuits Syst. -I, vol. 46, pp. 779-787, 1999.
• [5] Li F., Woo P. Y.: The Invariance of Mode-Voltage Sensitivity Sequence and its Application in a Unified Fault Detection Dictionary Method. IEEE Trans. Circuits Syst. -I, vol. 46, pp. 1222-1227, 1999.
• [6] Starzyk J. A., Pang J., Manetti S., Piccirilli M. C., Fedi G.: Finding Ambiguity Groups in low Testability Analog Circuits. IEEE Trans. Circuits Syst. -I, vol. 47, pp. 1125-1137, 2000.
• [7] Tadeusiewicz M., Korzybski M.: A Method for Fault Diagnosis in Linear Electronic Circuits. Int. J. Cir. Theor. Appl., vol. 28, pp. 245-262, 2000.
• [8] Starzyk J. A., Liu D.: Multiple Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Large Change Sensitivity Analysis. Proc. Europ. Conf. Cir. Theor. Des., Espoo'2001, pp. 241-244, 2001.
• [9] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M.: An Algorithm for Soft-Fault Diagnosis of Linear and Nonlinear Circuits. IEEE Trans. Circuits Syst. -I, vol. 49, pp. 1648-1653, 2002.
• [10] Liu D., Starzyk J. A.: A Generalized Fault Diagnosis Method in Dynamic Analogue Circuits. Int. J. Cir. Theor. Appl., vol. 30, pp. 487-510,2002.
• [11] Manetti S., Piccirilli M. C.: A Singular-Value Decomposition Approach for Ambiguity Group Determination in Analog Circuits. IEEE Trans. Cir. Syst. -I, vol. 50, pp. 477-487, 2003.
• [12] Rutkowski J.: Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych. WKiŁ, Warszawa 2003.
• [13] Tadeusiewicz M., Hałgas S.: Multiple Fault Diagnosis in Analog Circuits. Proc. Europ. Con. Cir. Theor. Des., Cork'2005, Ireland, vol. 3, pp. 205-208, 2005.
• [14] Tadeusiewicz M., Hałgas S.: An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits. Int. J. Cir. Theor. Appl., vol. 34, pp. 607-615, 2006.
• [15] Golub G. H., Van Loan C. F.: Matrix Computation, Third Edition. The Johns Hopkins University Press, London 1996.