Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

• Autorzy: Toczek W.

Warianty tytułu

EN

Testing and diagnosis of fully differential circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje metoda. Zwrócono uwagę na jej relewantne cechy diagnostyczne, które umożliwiają zgrubną lokalizację uszkodzeń na podstawie nachylenia zboczy charakterystyk amplitudowo-częstotliwościowych.

EN

A novel approach to fault-oriented testing and diagnosis of fully differential circuits is proposed. It consists of excitation of the circuit under test by commonmode voltage using an extra input pin and measurement of output differential voltage. It is shown that network function, used as a vehicle in testing, is well suited for fault detection and have also some diagnostic property. The observation was made that the slopes of its magnitude responses are the diagnostically relevant features. The method was verified on the example of testing the 6-th order band-pass filter.

Słowa kluczowe

PL

technologia samotestowania; układy w pełni różnicowe

EN

built-in self-test; fully differential circuits

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 9
• Strony: 12--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Toczek W.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

Bibliografia

• [1] Burns M., Roberts G. W.: An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement. Oxford University Press, New York, Oxford, 2001.
• [2] Toczek W.: Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych. Kongres Metrologii 2004, 6-9. 09. 2004, Wrocław, pp. 485-488.
• [3] Van Peteghem, Duque-Carillo J. F.: A General Description of Common-Mode Feedback in Fully-Differential Amplifiers, IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 1990, vol. 4, pp. 3209-3212.
• [4] Lubaszewski M. i in.: Design of Self-Checking Fully Differential Circuits and Boards. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 8, no. 2, 2000, pp. 113-127.
• [5] Harjani R., Vinnakota B.: Analog Circuit Observer Blocks. IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Analog and Digital Signal Processing, 1997, vol. 44, pp. 154-163.
• [6] Mir S., Lubaszewski M., Courtois B.: Unified Build-in Self-Test for Fully Differential Analog Circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 1996, vol. 9, pp. 135-151.
• [7] Stratigopoulos H. D., Makris Y.: An Adaptive Checker for the Fully Differential Analog Code. IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 41, no. 6, June 2006, pp. 1421-1429.
• [8] Van Valkenburg M. E.: Analog Filter Design. Holt, Rinehart and Winston, New York, 1987.