Test points selection algorithms improving efficiency of analog circuit fault diagnosis

• Autorzy: Ossowski M. , Korzybski M.

Warianty tytułu

PL

Algorytmy doboru punktów testowych zwiększające efektywność diagnostyki uszkodzeń układów analogowych

• Konferencja: International Conference on Signal and Electronic Systems : ICSES 2012 (18-21.09.2012; Wrocław, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The following paper considers two different methods of improving the ranking list algorithm for catastrophic faults localization methods. The first one is based on the simulated annealing and genetic algorithm approach. It enables us to search in very large set of possible testing points. The second one is established on the invented fitness function closely related to the structure of modified gray relational analysis (GRA) algorithm. Both methods make it possible to investigate circuits with parameter's tolerances included. Improving any other fault detection algorithms is an alternative possible use of the presented GRA based optimization technique for finding the set of analyzed circuit test points.

PL

W artykule opisano i porównano dwie metody poprawy skuteczności prostego rankingowego algorytmu detekcji uszkodzeń katastroficznych wykorzystującego koncepcje teorii systemów szarych (GRA). Pierwsza z nich opiera się na koncepcji symulowanego wyżarzania, druga natomiast wykorzystuje pewne właściwości zmodyfikowanego rankingowego algorytmu detekcji uszkodzeń do optymalizacji zbioru punktów testowych. Oba podejścia zapewniają uwzględnianie tolerancji elementów w procesie diagnostycznym. Zaproponowana filtracyjna technika bazująca na właściwościach proponowanego klasyfikatora GRA umożliwia ponadto prostą i efektywną selekcję punktów testowych dla dowolnej innej metody wykrywania uszkodzeń.

Słowa kluczowe

EN

analog circuits; fault diagnosis; genetic algorithms; simulated annealing; grey relational analysis; test points selection

PL

układy analogowe; detekcja uszkodzeń; algorytmy genetyczne; wyżarzanie symulowane; teoria systemów szarych; selekcja punktów testowych

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2013
• Tom: Vol. 54, nr 2
• Strony: 13--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., tab.

Twórcy

autor

Ossowski M.

autor

Korzybski M.

• Technical University of Łodz

Bibliografia

• [1] Ossowski M., A. Kuczyński: Obtaining Tolerance for Fault Diagnosis Algorithm, Proc. of XV International Symposium on Theoretical Engineering, pp. 375-378, Lübeck, 22-24 June 2009.
• [2] Zeng G., R. Jiang, G. Huang, M. Xu and J. Li: „Optimization of wastewater treatment alternative selection by hierarchy grey relational analysis”, Journal of Environmental Management, vol. 82, pp. 250-259, 2007.
• [3] Hsu C-J. and Chin-You Huang: „Improving effort Estimation Accuracy by Weighted Grey Relational Analysis During Software Development”, Proc. of 14th IEEE A-P Software Engineering Conference, pp. 534-541, 2007.
• [4] Deng J. L.: „Introduction to Grey System Theory”, The Journal of Grey System, vol. 1, pp. 1-24,1989. While considering modern modeling, designing and manufacturing process, fault diagnosis of analog circuits with element tolerances must be taken into account. It has always been an important part of this process.
• [5] Liu H., G. Chen, S. Jiang, G. Song: „A Survey of Feature Extraction Approches in Analog Circuit Fault Diagnosis”, IEEE P-A Workshop.
• [6] Ossowski M.: Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech, Elektronika: konstrukcje, technologie, zastosowania, nr 12, str. 36-39, 2010.
• [7] Alippi С., M. Catelani, A. Fort and M. Mugnaini: „Automated selection of test frequencies for fault diagnosis in analog electronic circuits”, IEEE Trans. Inst. Measurement, 2005, vol. 54, 1033-1044.
• [8] Starzyk J. A., D. Liu, Z. H. Liu, D. E. Nelson and J. Rutkowski: „Entropy-based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques”, IEEE Trans. Inst. Measurem., vol. 53, pp. 754-761, 2004.
• [9] Prasad V. C. and N. S. C. Babu: „Selection of test nodes for analog fault diagnosis in dictionary approach”, IEEE Trans. Inst. Measurement, vol. 49, 1289-1297, 2000.
• [10] Prasad V. C. and S. N. R. Pinjala: „Fast algorithm for selection of test nodes of an analog circuit using a generalized fault dictionary approach”, Cir. Syst. Signal Processing, vol. 14, pp. 707-724, 1995.
• [11] Huynh S. D., K. Seongwon, M. Soma and Z. Jinyan: „Automatic analog test signal generation using multifrequency analysis”, IEEE Trans. Cir. Syst. II 19, vol. 46, pp. 565-576, 1999.
• [12] Golonek Т., D. Grzechca and J. Rutkowski: „Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index and ambiguity sets”, Int. Conf. Sig. Electronic Syst. ICSES'06, pp. 511-514, 2006.
• [13] Golonek Т. and J. Rutkowski: „Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection”, IEEE Trans. Cir. Syst. II, vol. 54, pp. 117-121, 2007.
• [14] Golonek Т., D. Grzechca, J. Rutkowski: „Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych”, Elektronika: konstrukcje, technologie, zastosowania, R. 51 nr 10, str. 17-20, 2010.
• [15] Tadeusiewicz M., S. Hałgas and M. Korzybski: Multiple catastrophic fault diagnosis of analog circuits considering the component tolerances. International Journal on Circuit Theory and Application, accessible on-line.