Wtyczka do środowiska "Eclipse" dla edytora kodów źródłowych VHDL z zaawansowanym systemem formatowania tekstu

Niton, B.; Poźniak, K. T.; Romaniuk, R. S.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Wtyczka do środowiska "Eclipse" dla edytora kodów źródłowych VHDL z zaawansowanym systemem formatowania tekstu

Autorzy

Niton B. , Poźniak K. T. , Romaniuk R. S.

Identyfikatory

Warianty tytułu

Plug-in to Eclipse environment for VHDL source code editor with advanced formatting of text

Języki publikacji

Abstrakty

W artykule opisano koncepcję oraz realizację wtyczki do środowiska Eclipse przeznaczoną do edycji kodów źródłowych w języku opisu sprzętu VHDL. Przedstawiono autorskie rozwiązanie systemu formatującego dla kodów źródłowych VHDL rozszerzające możliwości programu VEditor bazującego na wolnej licencji. Zaprezentowano wynik działania systemu formatującego na wybranych przykładach kodach źródłowych VHDL.

The paper describes an idea and realization of a smart plug-in to the Eclipse software environment. The plug-in is predicted for editing of the VHDL source code. It extend considerably the capabilities of the VEditor program, which bases on the open license. There are presented the results of the formatting procedures performed on chosen examples of the VHDL source codes.

Słowa kluczowe

VHDL kod źródłowy formatowanie kodów źródłowych Eclipse języki programowania

VHDL Eclipse source code programming languages formatting of source codes

Wydawca

Wydawnictwo SIGMA-NOT

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Rocznik

2011

Tom

Vol. 52, nr 11

Strony

124--127

Opis fizyczny

Bibliogr. 76 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Niton B.

autor

Poźniak K. T.

autor

Romaniuk R. S.

Politechnika Warszawska, Instytut Systemów Elektronicznych

Bibliografia

[1] http://en.wikipedia.org/wiki/Integrated_development_environment - definicja zintegrowanych środowisk programistycznych
[2] http://www.eclipse.org/- strona główna programu Eclipse
[3] http://www.sigasi.com/- strona główna programu Sigasi HDT
[4] http://simplifide.com/- strona główna programu Simplifide HD
[5] http://sourceforge.net/apps/mediawiki/veditor/index.php?title=Main_Page - strona główna programu Veditor
[6] B. Niton, et al., Proc. SPIE 8010, art no 80100R (2011).
[7] B. Niton, et al., Proc. SPIE 8010, art no 80100S (2011).
[8] B. Niton, et al., Proc. SPIE 8010. art no 80100T (2011).
[9] R. S. Romaniuk, Proc. SPIE 7502, paper 7502-70 (2009).
[10] R. S. Romaniuk, Proc. SPIE 7502, paper 7502-71 (2009).
[11] T. Czarski, et al., 2007 IEEE Instr. and Measur. Techn. IEEE Conf. Record, art no. 4258483 (2007).
[12] D. Rybka, et al., IEEE EUROCON 2007, IEEE Conference Records, art no. 4400429, pp. 1251-1255 (2007).
[13] T. Czarski, et al., IEEE EUROCON 2007, IEEE Conference Records, art no. 4400644, pp. 1278-1284(2007).
[14] J. Szewinski, et al., IEEE EUROCON 2007, IEEE Conference Records, art no. 4400649, pp. 1285-1288 (2007).
[15] S. Stankiewicz, et al, 2004 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, vol. 1, pp. 400-404 (2004).
[16] T. Czarski, et al., Proc. SPIE 5775, pp. 69-77 (2005).
[17] W. Giergusiewicz, et al., Proc. SPIE 5948, art no. 59482C (2005).
[18] K. T. Poźniak et al., Proc. SPIE 5775, art no. 02, pp. 9-21 (2005).
[19] K. T. Poźniak, et al., Proc. SPIE 5464, pp. 130-138 (2004).
[20] W. Zabołotny et al., Proc. SPIE 5484, pp 171-179 (2004).
[21] P. Pucyk et al., Proc. SPIE 5775, art no. 06, pp. 52-60 (2005).
[22] T. Czarski et al., Proc. SPIE 5484, pp. 69-87 (2004).
[23] R. S. Romaniuk, J. Dorosz, Proc. SPIE 6347, art no 634710 (2006).
[24] T. Czarski et al., Proc SPIE 5484, pp. 111-129 (2004).
[25] A. Kalicki, et al., Proc. SPIE 7124, art no. 712410 (2008).
[26] T. Filipek, et al., Proc. SPIE 5775, art no.15, pp. 139-149 (2005).
[27] K. Perkuszewski et al., Proc. SPIE 6347, art. 634708 (2006).
[28] A. Burd., et al., Proc. SPIE 6159, art. No. 61590H (2006).
[29] P. Rutkowski, et al., Proc. SPIE 5484, pp. 153-170 (2004).
[30] T. Czarski et al., Proc. SPIE 5484, pp. 88-98 (2004).
[31] R. S. Romaniuk et al., Proc. SPIE 5064, pp. 210-221 (2003).
[32] R. Romaniuk, et al., Proc SPIE 7502, art. 75021Z (2009).
[33] R. S. Romaniuk, Proc. SPIE 7502, art 750201, pp. ixiii-xxiv (2009).
[34] M. Kwiatkowski, et al., Proc. SPIE 7124, paper 7124OF (2008).
[35] R. Romaniuk, Proc. SPIE 6937, pp. 693717 (2007).
[36] L. Dymanowski, et al., Proc. SPIE 6937. pp. 69370K (2007).
[37] M. Kwiatkowski, et al., Proc. SPIE 6937. pp. 69370A (2007).
[38] R. Romaniuk, Proc. SPIE 6937, art no. 693716 (2007).
[39] A. Brandt, et al., Proc. SPIE 6937, art 69370F (2008).
[40] S. Chatrchyan, et al., JINST 3 (8), art. no. S08004 (2008).
[41] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03001 (2010).
[42] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03002 (2010).
[43] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03003 (2010).
[44] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03004 (2010).
[45] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03005 (2010).
[46] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03006 (2010).
[47] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03007 (2010).
[48] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03008 (2010).
[49] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03009 (2010).
[50] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03010 (2010).
[51] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. P03007 (2010).
[52] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03011 (2010).
[53] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03012 (2010).
[54] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03013 (2010).
[55] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03014 (2010).
[56] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03015 (2010).
[57] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03016 (2010).
[58] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3). p. T03017 (2010).
[59] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03018 (2010).
[60] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03019 (2010).
[61] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03020 (2010).
[62] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. 103021 (2010).
[63] S. Chatrchyan, et al., JINST 5 (3), p. T03022 (2010).
[64] R. Romaniuk, Opto-Electronics Review 8 (2), pp. 101-116 (2000).
[65] R. S. Romaniuk, Bull. of the PAS 56 (2), pp. 87-102 (2008).
[66] R. S. Romaniuk et al., Bull. of the PAS53(2), pp. 123-138 (2005).
[67] T. Czarski, et al., NIMA 548 (3), pp. 283-297 (2005).
[68] T. Czarski, et al., NIMA 568 (2), pp. 854-862 (2006).
[69] T. Czarski, et al., NIMA 556 (2), pp. 565-576 (2006).
[70] W. Ackerman, Nature Photonics 1 (6), pp. 336-342 (2007).
[71] A. Burd, et al., New Astronomy 10(5), pp. 409-416 (2005).
[72] A. Burd. et al., Astronomische Nachrichten 325 (6-8). pp. 674 (2004).
[73] B. Mukherjee et al., Radiation Protection Dosimetry 126 (1-4), pp. 256-260 (2007).
[74] P. Fafara et al., Measurement Science and Technology 18(8), art no. 010, pp. 2365-2371 (2005).
[75] R. S. Romaniuk, K. T. Poźniak, Measurement Science and Technology 18 (8), art no.E01(2005).
[76] R. S. Romaniuk et. al., Metrology and Measurement Systems 15 (2), pp. 241-245(2008).

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BWAN-0013-0039