Wybrane zagadnienia diagnozowania urządzenia wyposażonego w standard IEC 61850

• Autorzy: Wach A. K.

Warianty tytułu

EN

Some problems of diagnosing the device equipped with IEC 61850 standard

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Akceptacja protokołu komunikacyjnego IEC 61850 staje się faktem. Jest on coraz powszechniej stosowany w urządzeniach podstacji elektroenergetycznych. IEC 61850 stawia nowe wyzwania w zakresie testowania urządzeń podstacji w czasie rzeczywistym w procesie eksploatacji, w tym (między innymi) części cyfrowej urządzeń automatyki zabezpieczeniowej. Artykuł przedstawia wybrane zagadnienia diagnozowania urządzenia, będącego obiektem dyskretnym, poprzez zastosowanie znanej strategii diagnozowania polegającej na testowaniu kontrolnym wyznaczonych fragmentów urządzenia. W omawianym przypadku, problem polega na zastosowaniu tego podejścia do współczesnego pakietu cyfrowego oraz na poszukiwaniu praktycznych metod rozwiązania problemu przy niepełnej informacji o obiekcie oraz przy, z reguły, licznych ograniczeniach technicznych, warunkujących zbiór dopuszczalnych do testowania kontrolnego fragmentów pakietu. Współczesny obiekt cyfrowy charakteryzuje się z reguły wysokim stopniem złożoności strukturalnej, występowaniem złożonych elementów przełączających i dwukierunkowych wyprowadzeń informacyjnych, płaskim montażem oraz wykorzystywaniem nadmiarowych środków autodiagnostyki. Diagnozowanie przez testowanie kontrolne fragmentów, między innymi, wymaga rozwiązania problemów dotyczących wyznaczania fragmentów, testów kontrolnych fragmentów, wartości oczekiwanej uogólnionego kosztu realizacji testowania tych fragmentów, maksymalnej możliwej do uzyskania wnikliwości diagnostycznej oraz sposobu wnioskowania o stanie niezawodnościowym elementów obiektu na podstawie wyniku testu kontrolnego fragmentu.

EN

The IEC 61850 communication protocol becomes more widely accepted. It is becoming more widely applied in electrical substation equipment. The IEC 61850 presents new challenges for the testing of the substation equipment in real time in the process of exploitation, including (among others) of the digital part of the relay protection equipment. The paper presents selected issues of diagnosis device, which is a discrete object, by applying known strategies to diagnose through the adjusting of the set pieces of equipment. In the discussed case, the problem lies in applying that approach to the modern digital circuit and searching the practical method of its solution by a minimum amount of the object Information and generally by the many technical limitations, which specify the set of the clusters accessible for the functional testing circuit. Typical modern digital circuit, as a rule, contains the bidirectional Information pins, complex switching elements, and redundant aids and is made in the surface mounting technology and characterized by a high degree of the structural complexity. The digital device diagnosis (by control testing of its clusters), among other things, requires the solution of problems relating to the assignation of digital circuit clusters, the generation of control tests for these clusters, the determination of the expected value of the generalized cost of implementing of the testing of these clusters, "the largest" (possible obtainable) diagnostic insight and the method of the inference on the reliability state of the circuit elements based on the result of the cluster test.

Słowa kluczowe

PL

stacje elektroenergetyczne; standard IEC 61850; wyznaczanie fragmentów IED; testy kontrolne fragmentów; procedura diagnostyczna; testowanie w czasie rzeczywistym

EN

power substations; IEC 61850 standard; determination of an IED clusters; control tests of clusters; diagnostic procedures; real time testing

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 7
• Strony: 161--165
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., wykr.

Twórcy

autor

Wach A. K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] Wach A. K.: Wybrane problemy testowania inteligentnego urządzenia elektronicznego wyposażonego w standard IEC 61850. Elektronika nr 7/2010, ss. 75-78, 2010.
• [2] Chiang C.-H., Gupta S.: BIST TPGs for Faults in Board Level Interconnect via Boundary Scan. Proc. VLSI Test Symposium, pp. 376-382, 1997.
• [3] Kulesza R., Wach A. K.: Some checking algorithms of digital circuit testability. International Conference of Microelectronic, Warszawa, 1992.
• [4] Ahmad A. Al-Yamani: Deterministic Built-In Self Test For Digital Circuits. Rozprawa doktorska, Department of Electrical Engineering and the Committee on Graduate Studies of Stanford University, April 2004.
• [5] Wang F. C.: Digital circuit testing a guide to DFT and others. Academic Press, New York 1991.
• [6] Huang J., Lombardi F.: Design and Test of Digital Circuits by Quantum-Dot Cellular Automata. Wyd. Jeudische Verlagsanstalt, Nov. 2007.
• [7] Abramovici M., Menon R.: Fault simulation on reconfigurable hardware. Proceedings of the 5th IEEE Symposium on FPGA-Based Gustom Computing Machines, str. 182, April 16-18, 1997.
• [8] Nigh Ph.: Scan-Based Testing: The Only Practical Solution for Testing ASIC/Consumer Products, in Proc. International Test Conference 2002 (ITC'02), Baltimore, MD, USA, Oct. 2002.
• [9] Kuiken O. J., Zhang X., Kerkhoff H. G.: „Built-ln Self-Diagnostics for a NoC-Based Reconfigurable IC for Dependable Beamforming Applications” in Proc. IEEE Intern. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT08), Cambridge USA, pp. 45-53, Oct. 2008.