Badanie cienkich nanostrukturalnych warstw metodą spektroskopii absorpcyjnej

• Autorzy: Kamińska A. , Molenda K.

Warianty tytułu

EN

The studies of thin nanostructural films by absorption spectroscopy

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono możliwości zastosowań spektroskopii FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy) i UV-VIS (Ultraviolet - Visible Spectroscopy) do badań cienkich warstw nanostrukturalnych na bazie węgla i metalu (C-Me). Techniki te służą do określania struktury molekularnej badanego materiału i poznania oddziaływań między cząsteczkami. Analiza widm FTIR oraz UV-VIS pozwala określić zawartość prekursorów warstw (octan Me i fulleren C₆ ₀), które w procesie syntezy nanostruktur C - Me (PVD - Physical Vapor Deposition) nie uległy całkowitemu rozkładowi. Badania te pozwalają na korelację parametrów technologicznych procesu PVD ze strukturą otrzymywanych warstw.

EN

The paper presents the possibility of using FTIR and UV-VIS spectroscopy to study the nanostructural thin films basing on carbon and metal (C-Me). These techniques are used to determine the molecular structure of the investigated material. Analysis of FTIR and UV-VIS spectra allows to specify the content of films' precursors (metal acetate and fullerene), which did not decompose completely during the deposition process (PVD - Physical Vapor Deposition). It enables to determine the influence of technological parameters of the PVD process on the structure of obtained films.

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia FTIR; spektrofotometria UV-VIS; cienkie warstwy nanostrukturalne

EN

FTIR spectroscopy; spectrophotometry UV-Vis; nanostructural thin films

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 7
• Strony: 26--29
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., wykr.

Twórcy

autor

Kamińska A.

autor

Molenda K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] Zhang J. Y., Boyd I. W.: Photo-decomposition of thin palladium acetate films with 126 nm radiation. Appl. Phys. A 65 (1997) 379-382.
• [2] Fang Q., He G., Cai W. P., Zhang J.-Y., Boyd I. W.: Palladium nanoparticles on silicon by photo-reduction using 172 nm excimer UV lamps. Appl. Surf. Sci. 226 (2004) 7-11.
• [3] Byszewski P., Klusek Z.: Some properties of fullerenes and carbon nanotubes. Opto-Electronics Review 9(2) (2001) 203-210.
• [4] Przygocki W., Włochowicz A.: Fulereny i nanorurki. WNT 2001.
• [5] Jing D., Pan Z.: Molecular vibrational modes of C60 and C70 via finite element method. European Journal of Mechanics A/Solids 28 (2009) 948-954.
• [6] Ibrahim M.: Modelling and Vibrational Structure of C60 and C80. Acta Chim. Slov. 52 (2005) 153-158.
• [7] Guan H., Zhou W., Fu S., Shao C., Liu Y.: Electrospun nanofibers of NiO/SiO2 composite. J. Phys. Chem. Solid 70 (2009) 1374-1377.
• [8] Ajie H. et al.: Characterization of the Soluble All-Carbon Molecules C60 and C70. J. Phys. Chem. 94 (1990) 8630-8633.
• [9] Scharff P. et al.: Structure of C60 fullerene in water: spectroscopic data. Carbon 42 (2004) 1203-1206.
• [10] Baltog I. et al.: Spectroscopic studies on C60 fullerene solutions in binary solvent mixture. Romanian Reports in Physics, 57 (2005) 837-844.
• [11] Minczewski J., Marczenko Z.: T3 - Analiza Instrumentalna (1973).
• [12] Andrievsky G. V., Klochkov V. K., Bordyuh A. B.: Comparative analysis of two aqueous-colloidal solutions of C60 fullerene with help of FTIR reflectance and UV-VIS spectroscopy. Chem. Phys. Lett. 364 (2002) 8-17.