Mikroskopia bliskiego pola optycznego na bazie rezonatorów kwarcowych

• Autorzy: Kulka T. , Gil P. , Woszczyna M. , Piotrowicz A. , Kowalska Z. , Radojewski J. , Gotszalk T.

Warianty tytułu

EN

Near-field optical microscopy based on quartz resonators

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaprezentowano sposoby wykorzystania rezonatorów kwarcowych wraz z ostrzami światłowodowymi do badań powierzchni w mikroskopii bliskiego pola optycznego. Celem prezentowanej pracy była analiza wpływu przyklejonych ostrzy na charakterystyki częstotliwościowe rezonatorów. Skupiono się również na ocenie przydatności jedno- i dwupunktowych połączeń światłowód-rezonator w mikroskopii bliskich oddziaływań. W wyniku przeprowadzonych eksperymentów stwierdzono: - zmniejszenie się częstotliwości rezonansowej oraz dobroci widelca kwarcowego z przyklejonym na końcu kamertonu ostrzem światłowodowym w stosunku do rezonatora bez dodatkowego obciążenia; - rozrzut częstotliwości rezonansowej, związany np. z długością wystającego ostrza czy ilością kleju użytego do połączenia elementów; - całkowite rozstrojenie podwójnie klejonych układów ze względu na wielokrotne rezonanse w szerokim zakresie częstotliwości (nieprzydatne w mikroskopii SNOM).

EN

This article presents quartz resonators together with glued fiber optic tips application in the near-field optical microscopy. The purpose of the study was to analyze the influence of connected tips on the frequency characteristics of resonators. Our work focuses also on the suitability of one-point and two-points connections between fiber and resonator in near-field microscopy. As a result of the experiments it was found: - a decrease in the resonance frequency and the quality factor of quartz fork with fiber tip glued at the end of resonator in relation to the resonator without the additional load; - resonant frequency change, associated with, for example: the length of waveguide tip or amount of glue used to connect components; - total detuning of double-glued systems because of the multiple resonances in a wide range of frequencies (not useful in SNOM microscopy).

Słowa kluczowe

PL

rezonator kwarcowy; ostrze światłowodowe; mikroskopia bliskiego pola

EN

quartz resonator; fiber optic tip; SNOM

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 50, nr 9
• Strony: 53--55
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Kulka T.

autor

Gil P.

autor

Woszczyna M.

autor

Piotrowicz A.

autor

Kowalska Z.

autor

Radojewski J.

autor

Gotszalk T.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• [1] Kaupp G.: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Springer, 2006.
• [2] Woszczyna M.: Badanie struktur biologicznych metodami bliskich oddziaływań. Wrocław 2005, praca magisterska.
• [3] Jahncke C. L. i in.: Choosing a preamplifier for tuning fork Signac detection in scanning force microscopy. Review Of Scientific Instruments, 2004, vol. 75, no 8, 2759-2761.
• [4] http://www.ntmdt.com/spm-principles/view/shear-force-microscopy, NT-MDT Co.