Modelowanie szumów RTS

Cichosz, J.; Szewczyk, A.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Modelowanie szumów RTS

Autorzy

Cichosz J. , Szewczyk A.

Identyfikatory

Warianty tytułu

RTS noise modelling

Konferencja

Krajowa Konferencja Elektroniki. 10 ; 05-09.06.2011 ; Darłówko Wschodnie, Polska

Języki publikacji

Abstrakty

Przytoczono charakterystyczne parametry szumu wybuchowego RTS (Random Telegraph Signal). Przedstawiono algorytm programowego generatora szumów RTS. Algorytm został wyposażony w możliwość dodawania do wygenerowanych impulsów RTS szumu białego oraz szumu typu 1/f. Przedstawiono przykładowe realizacje wygenerowanych przebiegów.

There are parameters of Random Telegraph Signal (RTS) noise are described in the paper. Also there is the algorithm of software RTS generator. The presented algorithm allows to generate the RTS noise with 1/f noise and white noise components. In the paper the examples of generated process are quoted.

Słowa kluczowe

elementy półprzewodnikowe szumy wybuchowe algorytmy generacji szumów szumy

semiconductor devices noise RTS noise algorithm of noise modeling

Wydawca

Wydawnictwo SIGMA-NOT

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Rocznik

2011

Tom

Vol. 52, nr 9

Strony

161--163

Opis fizyczny

Bibliogr. 17 poz., wykr.

Twórcy

autor

Cichosz J.

autor

Szewczyk A.

Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

Bibliografia

[1] Jevtic M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectromc Reliability, vol. 44, 1123-1129, 2004.
[2] Xu J., D. Abbot, Y. Dai: 1/f, g-r and burst noise used as a screening threshold for reliability estimation of optoelectronic coupled device. Microelectronics Reliability 40, 171-178, 2000.
]3] Claeys C., E. Simoen: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, no. 6, June 1998.
[4] Vandamme L. K. J.: Opportunities and limitations to use low-frequency noise as a diagnostic tool for device guality. Proc. of the 17th Intern. Conference on Noise and Fluctuations, August 18-22, 2003, Prague.
[5] Konczakowska A., J. Cichosz, A. Szewczyk, B. Stawarz: Identification of optocoupler devices with RTS noise. Fluctuation and Noise Letters, vol. 6, No. 4, L395-L404, 2006.
[6] Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. EXIT, Warszawa, 2006.
[7] Konczakowska A., J. Cichosz, A. Szewczyk: A new method for identification of RTS noise. Bulletin of the Polish Academy ot Sciences. PAN, vol. 54, No 4, 457-460, 2006.
[8] Cichosz J. A., A. Szatkowski: Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise on Semiconductor Components. ICNF 2005, 19-23 September 2005, Salamanca, Spain.
[9] Kolhatkar J. S., L. K. J. Vandamme, at al.: Separation of Random Telegraph Signals Irom 1/f Noise in MOSFETs under Constant and Switched Bias Conditions. ESSDERC 2003. Proceedings of the 33rd European Solid State Device Research ESSDERC’03. IEEE 2003.
[10] Kolhatkar J. S., A. P. Van der Wel, at al.: Measurement and extraction of RTS parameters under “switched biased” conditions in MOSFETS. Prac. of the 17th Intern. Conference on Noise and Fluctuations. August 16-22, 2003, Prague.
[11] Cichosz J., A. Szatkowski: Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych. Zesz. Nauk. Wydz. Elektrotech. i Autom. Politechniki Gdańskiej, 2005, nr 21
[12] Cichosz J., A. Konczakowska, A. Szatkowski: Komputerowy algorytm identyfikacji szumów RTS. Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - 2006, nr 22.
[13] Cichosz J., A. Konczakowska, B. Stawarz-Graczyk, A. Szatkowski: Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych. Pomiary Automatyka Kontrola, Vol. 54. nr 3, 2006.
[14] Cichosz J., A. Konczakowska, A Szatkowski: Piece-wise constant approximation method of Identification of RTS noise. 19th International Conference Noise and Fluctuations ICNF ‘2007. Tokyo, Japan. American Institute of Physics, Melville, New York. 2007, Vol. 922.
[15] Wieczorkowski R., R. Zieliński: Komputerowe generatory liczb losowych. WNT Warszawa 1997.
[16] Mingesz R., P. Bara, Z. Gingl, P. Makra: Digilal Signal Processor (DSP) based 1/f noise generator. Noise in Communication, Proceedings of SPIE, vol. 5473, 2004.
[17] http://home.earthlink.net/~Itrammell/tech/pinkalg.htm

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BWAK-0027-0044