Zastosowanie wysokorozdzielczego SEM do badań nanorurek węglowych

• Autorzy: Kozłowski M. , Czerwosz E.

Warianty tytułu

EN

Application of high resolution SEM in investigation of carbon nanotubes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zaprezentowano sposób zastosowania wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego do badań topografii i morfologii warstw złozonych z nanorurek węglowych otrzymywanych metodą dwustopniową w ITR. Metoda SEM pozwoliła na określenie związku pomiędzy zawartością Ni w pierwszym stopniu procesu technologicznego i średnicą nanorurek węglowych.

EN

Application of the high resolution SEM for studies of topography and morphology of film composed of carbon nanotubes obtained in 2-step process developed in the ITR is presented. Correlation between concentration of Ni in film obtained in first step of technological process and a diameter of nanotubes determined from SEM studies results is discussed.

Słowa kluczowe

PL

SEM; nanorurki węglowe

EN

SEM; carbon nanotube

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 7
• Strony: 176--178
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., il., wyk.

Twórcy

autor

Kozłowski M.

autor

Czerwosz E.

• Instytut Tele- i Radiotechniki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Iijima S., Ichinashi T.: Nature 363, p. 603, (1993).
• [2] Dresseihaus M. S., Dresseihaus G., Eklund P. C.: Science of Fullerenes and Carbon Nanotubes, Academic Press, new York, 1968.
• [3] Guo T., Nikolaev P., Rinzler A. G., Tombnek D., Colbert D. T., Smalley R. E.: J. Phys. Chem. 1995, 99, 10694-10697.
• [4] Kowalska E., Radomska J., Czerwosz E., Kozłowski M, Diduszko R., Wronka H.: Elektronika 10, p. 35 (2004).
• [5] Baker R. T. K., Barber M. A., Harris P. S., Feates F. S., Waite R. J.: J Catal., 26(1972)51.
• [6] Baker R. T. K.: Carbon, 27 (1983) 315.