Wybrane problemy testowania inteligentnego urządzenia elektronicznego wyposażonego w standard IEC 61850

• Autorzy: Wach A. K.

Warianty tytułu

EN

Some problems of testing intelligent electronic device using IEC 61850 standard

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Standard IEC 61850 jest odpowiedzią na potrzebę ujednolicenia metod komunikacji pomiędzy elementami stacji elektroenergetycznej. Właściwości standardu IEC 61850 umożliwiają również wprowadzanie logicznego węzła (lub urządzenia logicznego) w tryb testowy. Możliwość ta została wprowadzona w celu umożliwienia wykonywania niektórych rodzajów testów funkcjonalnych, podczas procesu eksploatacji systemu. W artykule ograniczono się do problemów testowania części cyfrowej inteligentnego urządzenia cyfrowego (IED). Zaproponowano narzędzie wspomagające wnioskowanie o tym, który z elementów części cyfrowej IED jest (z określonym prawdopodobieństwem) w stanie niezdatności, jeżeli na danym wyprowadzeniu (jakiegoś elementu) została zaobserwowana reakcja na test inna niż reakcja w stanie zdatności. Narzędziem tym jest sieć informacyjna, będąca pewnym odpowiednio opisanym digrafem, zbudowanym na zbiorze węzłów, będących odwzorowaniem wyprowadzeń informacyjnych testowanego obiektu cyfrowego i jego elementów.

EN

The IEC 61850 standard is a response to the need to standardize methods of the communication between the devices of the power substations. The features offered by the IEC 61850 standard give us also the possibility to put logical node (or logical device) in the test mode. This possibility is introduced to support the ability to perform certain forms of functional testing while the system is in operation. The paper is limited to the problems of the functional testing of the digital part of intelligent digital device (IED). It proposes a tool to assist reasoning about it, which of the elements of the digital part of the IED is (with certain probability) in the inoperable state, if at the output (some elements) we observed response does not equal the response of the device being in the operable state. This tool is the information net, which is some described respectively digraph, built on a set of nodes, which are pins mapping the digital device under test and its components. Using the information net can be mapped on the relevant cause-effect relation between the inoperable state of a specific component of the device, and the reaction observed on any pin of a component of a tested device.

Słowa kluczowe

PL

stacje elektroenergetyczne; standard IEC 61850; testowanie funkcjonalne części cyfrowej IED; sieć informacyjna obiektu cyfrowego

EN

power substation; IEC 61850 standard; functional testing of the digital part of IED; information net of the digital device

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 7
• Strony: 75--78
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Wach A. K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] PN-EN 61850 Systemy i sieci komunikacyjne w stacjach elektroenergetycznych. Standard IEC - dziesięć części.
• [2] Schossig T.: Testing in Substations with IEC 61850 - Latest Developments and Advanced Possibilities. http://news.iec61850.ru/wp-content/plugins/downloads-manager/upload/Schossig2_en.pdf .
• [3] Brunner Ch.: IEC 61850 Process bus - Challenges and benefits. http://news.iec61850.ru/wp-content/plugins/downloads-manager/upload/IEC 61850 process bus-challenges and benefits.pdf.
• [4] Wach A. K.: Testowanie syndromowe układów cyfrowych. Prace PIE, nr 126, ss.116-128, Warszawa 1996.
• [5] Kulesza R., Wach A. K.: Some checking Algorithms of digital circuit testability. International Conference of Microelectronic, Warszawa, 1992.
• [6] Abramovici M., Breuer M. A., Friedman A. D.: Digital systems testing and testable design. Computer Science Press, New York, 1990.
• [7] Gliński K., Wach A. K.: Problems of the computer-aided build of the digital electronic boards information net. XV National Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Szczyrk, vol.1, pp. 169-174, Oct. 1992.
• [8] Flottes M. L., Landrault C., Petitqueux A.: A unified DFT approach for BIST and external test. Journal of Electronic Testing: theory and applications, vol. 19/1, February 2003.
• [9] Samuel P., Mall R., Kanth P.: Automatic test case generation from UML communication diagrams. Information and software technology, vol. 49, issue 2, February 2007.