PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Testing of an optical feedback pixel driver using supply current

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Metoda testowania drajwera pikseli ze sprzężeniem optycznym oparta na pomiarze prądu zasilania
Konferencja
Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2009. 16 ; 25-27.06.2009 ; Łódź, Polska
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The testing of an optical feedback pixel driver is discussed and simulated by HSPICE. A basic characteristic of the specific circuit is the fact that the gray scales of the pixel are created by pulse width modulation. So, the integral of the output / pixel current (which is proportional to / oled) has to be measured or calculated and tested. The method that is presented enables the detection and identification of many common processing defects up to 88%.
PL
Artykuł ten omawia problem testowania drajwerów pikseli ze sprzężeniem optycznym na przykładzie symulacji przeprowadzonych przy użyciu program HSPICE. Podstawową cechą omawianego układu jest to, że skala szarości pikseli tworzona jest poprzez modulację szerokości impulsów (PWM). Zatem wielkością jaką należy zmierzyć lub obliczyć jest całka prądu wyjściowego / pixel (proporcjonalnego do /oled). Zaprezentowana metoda pozwala na wykrycie i identyfikację do 88% najczęściej występujących wad technologicznych.
Rocznik
Strony
79--82
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., tab., wykr.
Twórcy
  • Aristotle University of Thessaloniki, Dept. of Electrical and Computer Eng., Electronics Lab., Thessaloniki, Greece
Bibliografia
  • [1] Papadopoulos N. P., Hatzopoulos A. A., Papakostas D. K.: An Improved Optical Feedback Pixel Driver Circuit. Electron Devices, IEEE Transactions on vol. 56, Issue 2, Feb. 2009 pp. 229 - 235.
  • [2] Fish D., Young N., Deane S., Steer A., George D., Giraldo A., Lifka H., Gielkens O., Oepts W.: 38.1: Optical Feedback for AMOLED Display Compensation using LTPS and a Si:H Technologies, Journal of the Society For Information Display 13/2, 2005 , pp. 131 - 138.
  • [3] Ashtiani S. J., Chaji G. R., Nathan A.: AMOLED Pixel Circuit With Electronic Compensation of Luminance Degradation, Display Technology, Journal of Vol. 3, Issue 1, March 2007 Page(s): 36 - 39.
  • [4] Bhowmick S. K., Mazhari B.: An improved Four TFT circuit for active-matrix organic light emitting diode display. In SID Symp. Dig. Tech. Papers, May 2002, vol. 33, pp. 606 - 609, Issue 1.
  • [5] He Y., Hattori R., Kanicki J.: Four-thin film transistor pixel electrode circuits for active-matrix organic light-emitting displays. Jpn. J. Appl. Phys., vol. 40, no 3A, pp. 1199 - 1208, Mar. 2001, Part 1.
  • [6] Jae-Hoon Lee, Woo-Jin Nam, Byeong-Koo Kim, Hong-Seok Choi, Yong-Min Ha, Min-Koo Han: A New Poly-Si TFT Current-Mirror Pixel for Active Matrix Organic Light Emitting Diode, IEEE Electron Device Letters, vol. 27, no 10, October 2006.
  • [7] Jyi-Tsong Lin, Cheng-Neng Wen, Po-Hsieh Lin: A compensation threshold voltage shift pixel circuit for active matrix organic light emitting diode, Proc. 26th International Conference on Microelectronics (MIEL 2008), NIŠ, Serbia, 11 - 14 May, 2008.
  • [8] Henley F. J., Choi H. J.: Test head design using electro-optic receivers and GaAs pin electronics for a gigahertz production test system. In Proc. IEEE Int. Test Conf., 1988, p. 700.
  • [9] Brunner M., Schmid R., Schmitt R., Winkler D.: In-process flat panel-display testing with electron beams. In Proc. SID, 1994, p. 755.
  • [10] Yen-Chung Lin, and Han-Ping D. Shieh: In-Process Functional Testing of Pixel Circuit in AM-OLEDs, IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 52, no 10, October 2005.
  • [11] Xueqiang Liu, Tong Zhang, Lijie Wang, Zhiqiang Xia, Mingyou Li, Shiyong Liu: A Testing Method on Poly-Si Thin-Film Transistor Array for Active-Matrix Organic Emitting Display, Journal of Display Technology, vol. 4, no 2, JUNE 2008.
  • [12] Sanjiv Sambandan, Raj B. Apte, William S. Wong, Rene Lujan, Michael Young, Beverly Russo, Steve Ready, Robert A. Street: Defect Identification in Large Area Electronic Backplanes, Journal of Display Technology, vol. 5, no 1, JANUARY 2009.
  • [13] Yu-Cheol Shin, Heume-II Baek, Jeong-Hoon Kwak, Seung-Wook Noh, Changhee Lee: P-186: Enhanced Efficiency and Stability of Organic Light-emitting Diodes with Copper Hexadecafluorophthalocyanine Doped Hole Transport Layer. Society For Information Display 2006 Digest, pp. 927 - 930.
  • [14] Hong Y., Kanicki J., Hattorym R.: P103 Novel Poly-Si TFT Pixel Electrode Circuits and Current Programmed Active Matrix Driving Methods for AMOLEDs. Society For Information Display 2002 Digest, p. 618.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAK-0020-0019
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.