NMOS current mirror thermal analysis

• Autorzy: Michałowski M. , Jankowski M. , De Mey G.

Warianty tytułu

PL

Analiza termiczna zwierciadeł NMOS

• Konferencja: Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2009. 16 ; 25-27.06.2009 ; Łódź, Polska
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The aim of this report is to investigate the influence of changing the ambient temperature on behavior of simple and cascode current mirror. Moreover we'll investigate the influence of changing the temperature of each of the transistors separately with different temperature gradient configurations.

PL

Celem tego artykułu jest przeanalizowanie wpływu zmiany temperatury otoczenia na działanie układu prostego zwierciadła prądowego oraz zwierciadła kaskodowego. W artykule tym zostanie również przeanalizowane działanie układów zwierciadeł prądowych, w których każdy z tranzystorów pracuje w innej temperaturze.

Słowa kluczowe

EN

current mirror thermal analysis; current mirror; cascode current mirror; thermal issues in microeleetronics

PL

analiza termiczna zwierciadeł prądowych; zwierciadła prądowe; kaskoda zwierciadeł prądowych; termika w mikroelektronice

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 50, nr 12
• Strony: 65--68
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Michałowski M.

autor

Jankowski M.

autor

De Mey G.

• Politechnika Łódzka, Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych

Bibliografia

• [1] Jacob Baker R.: CMOS - Curcuit Design. Layout, and Simulation 2005.
• [2] Razavi B.: Design of Analog CMOS Integrated Circuits.
• [3] Sze S. M.: Semiconductor Devices - Physics and Technology.