Trudności występujące w procesie oceniania działalności badawczej w obszarze elektroniki

• Autorzy: Świderski J.

Warianty tytułu

EN

Difficulties appearing in the research activities assessment in the field of electronics

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Czyi dlaczego należy oceniać placówki naukowe i pracowników naukowych? Czy można te oceny przeprowadzać jedynie jakościowo, czy też można zastosować również ocenę ilościową? Jak i kto ma oceniać pracowników naukowych oraz czemu ta ocena ma służyć? Odpowiedź na ostatnie z tych pytań determinuje podejście do postawionego na wstępie. Przeanalizowano modne ostatnio paradoksalne zestawianie osiągnięć (i ich twórców) wielkich z osiągnięciami ważnymi, a następnie opisano systemy oceny ilościowej stosowane w najwyżej i najniżej ocenianych placówkach naukowych. Wreszcie podjęto próbę udowodnienia dwóch związanych ze sobą tez, że brak dokładnej i szybkiej oceny ważnych osiągnięć (zwłaszcza w naukach stosowanych i w zaawansowanych technologiach) najczęściej prowadzi do poważnych, wymiernych strat, a ocena zbyt dobra jest równie krzywdząca, jak ocena niezasłużenie zła.

EN

Is it desirable - and why - to assess research institutions and scientists? Is it a proper thing to perform such assessment only with regard to quality, or rather to evaluate by volume as well? Who is the suitable person to assess scientists, how to perform it and what purpose does such evaluation serve? The answer to the last of these questions determines an attitude to the initial one. The article analyses, as it is trendy recently, paradoxical comparison between great achievements (and authors of them) and important achievements; systems of quantitative assessment applied in best and worst evaluated research institutions were described afterwards. Finally there was an attempt to prove two related thesis: 1) lack of thorough and fast assessment of important achievements (especially in the applied science and advanced technologies) most often leads to severe, measurable losses, and 2) too good grade causes harm as well as undeserved bad one.

Słowa kluczowe

PL

elektronika; badania naukowe

EN

electronics; scientific research

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 7-8
• Strony: 101--104
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Świderski J.

• Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa

Bibliografia

• [1] Europejska Karta Naukowca - Dziennik Urzędowy Unii Europejskiej z 22.03.2005 poz. 2005/251/WE
• [2] Świderski J.: Krytyka jako rodzaj pomiaru. W zbiorze pt. Krytyka i krytycyzm w nauce. Wydawnictwo Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej Warszawa 1998.
• [3] Świderski J.: Sposoby oceny działalności naukowej i ich praktyczne zastosowanie w elektronice. Zagadnienia Naukoznawstwa XXXVIII, nr 1-2/2002, ss. 59-63.
• [4] Samsonowicz H., Sławiński J., Szczucki L. (rada wydawnicza): Lepsze w nauce. Wrocław 2000.
• [5] Świderski J.: Liczbowa ocena pracowników naukowych. Konferencja ChFPN NEW’07 Rogów 2007, ss. 357-365.