Koncepcja jednoatomowego czujnika pola elektrycznego typu FM

• Autorzy: Szawioła G. , Buczek A. , Koczorowski W. , Kucharski D. , Mazerewicz P. , Walaszyk A. , Stachowska E.

Warianty tytułu

EN

Concept of an FM type single-atom electric field sensor

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pomiary częstotliwości należą do najbardziej dokładnych we współczesnej metrologii. W niniejszym opracowaniu szkicowana jest koncepcja mikroskopii sił atomowych wykorzystujących pomiar częstotliwości. Propozycja bazuje na efekcie swego rodzaju modulacji częstotliwości (FM) składowych harmonicznych drgań jonów uwięzionych w pułapkach planarnych, powodowanej zaburzeniem elektromagnetycznego pola pułapkującego. Ponadto zastosowanie jako czujników pojedynczych jonów, skaluje rozmiar tego czujnika do rozmiarów obiektu badanego.

EN

Frequency measurement is one of the most precise modern metrology methods. Our proposal for an atomic force microscope using frequency measurements is based on modulation (FM) of the harmonic oscillations of trapped ions in a planar trap, caused by perturbation of the confining electric field. The application of single ions allows scaling down the sensor to study an atomic sized object.

Słowa kluczowe

PL

mikroskop sił atomowych; czujnik sił elektrycznych; pułapka jonowa

EN

atomic force microscope; electric force sensor; ion trap

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 6
• Strony: 149--151
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., il., rys., wykr.

Twórcy

autor

Szawioła G.

autor

Buczek A.

autor

Koczorowski W.

autor

Kucharski D.

autor

Mazerewicz P.

autor

Walaszyk A.

autor

Stachowska E.

• Politechnika Poznańska, Wydział Fizyki Technicznej

Bibliografia

• [1] Mazurkiewicz A. i in.: Nanonauki i nanotechnologie. Stan i perspektywy rozwój. Wydawnictwo Instytutu Technologii Eksploatacji, Radom, 2007.
• [2] Szawiota G. i in.: Demostracja modelu jednoatomowego sensora pola elektrycznego typu AM. Konferencja Metrologia Kwantowa 2008, Poznań, 2008, zgłoszenie referatu nr 12.
• [3] Pearson Ch.E.: Theory and Application of Planar Ion Traps. Praca dyplomowa, MIT, 2006.
• [4] Pearson Ch.E. i in.: Experimental investigation of planar trap. Physical Review A 73, 2006, 032307.
• [5] Wu G. i in.: Ion trajectory simulation for electrode configurations with arbitrary geometries. Journal of American Society of Mass Spectrometry 17, 2006, 1216.
• [6] Major F.G., Gheorghe V.N., Werth G.: Charged particle traps. Physics and techniques of charged particle field confinement. Springer, Berlin, 2005.
• [7] Meijer J.: Concept of deterministic single ion doping with sub-nm spatial resolution. Applied Physics A 83, 2006, 321
• [8] Rosenbilt M. i in.: Simultaneous optical trapping and detection of atoms by microdisk resonators. Physical Review A 73, 2006, 063805.
• [9] Folman R. i in.: Microscopic atom optics: from wires to an atom chip. Advances In Atomic, Molecular And Optical Physics, vol.48, 2002, p. 263.
• [10] David T. i in.: Novel surface for atom chips. Europhysics Conference Abstracts, ECAMP IX, 9th European Conference on Atoms Moleculs and Photons International Conference on Atomic Physics, Heraklion, 2007, We3-39.
• [11] Wineland D.J. i in.: Trapped Atomic ions and quantum information processing. Atomic Physics 20, XX International Conference on Atomic Physics, Innsbruck, 2006, 103.
• [12] Schulz S.: Sideband cooling and coherent dynamics in microchip multi-segmented ion trap. 2007, arXiv:0712.3249v2 [quant-ph]
• [13] http://www.uni-ulm.de/nawi/nawi-qiv/mitglieder.html
• [14] http://www.iontrap.umd.edu/
• [15] Giovannetti V., Lloyld S., Maccone L.: Quantum metrology. Phys. Rev. Lett. 96, 2006, 010401.