Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych

• Autorzy: Jantos P. , Golonek T.

Warianty tytułu

EN

A deterministic analogue electronic circuits specification driven diagnosis method

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (11 ; 11-14.06.2012 ; Darłówko Wschodnie, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono deterministyczną metodę diagnostyki funkcjonalnej analogowych układów elektronicznych. Prezentowana metoda bazuje na wykorzystaniu aproksymacji specyfikacji obwodu w przestrzeni zdefiniowanej wybranymi cechami odpowiedzi czasowej układu testowanego. W celu oszacowania specyfikacji układu analogowego skorzystano z regresji kwadratowej funkcji dwóch zmiennych. Na podstawie wyznaczonych wartości specyfikacji, podejmowana jest decyzja o jego stanie diagnostycznym. Proponowana metoda diagnostyczna zostala zweryfikowana z wykorzystaniem obwodu przykładowego - filtru dolnoprzepustowego.

EN

There is an analogue electronic circuits deterministic specification driven diagnosis method presented in this paper. This method bases on an approximation of circuit under test (CUT) specifications' in the space defined by the set of a GUT time domain responses features In order to estimate CUT specifications a biquadratic regression has been applied. These values are then used to make a decision whether the CUT is faulty or non-faulty. The proposed diagnosis method has been verified with the use of an exemplary circuit - a low-pass filter.

Słowa kluczowe

PL

regresja kwadratowa; diagnostyka funkcjonalna; pomiar w dziedzinie czasu

EN

biquadratic regression; specification driven test; time domain measurement

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2012
• Tom: Vol. 53, nr 10
• Strony: 45--48
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., il., rys., wykr.

Twórcy

autor

Jantos P.

autor

Golonek T.

• Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Variyam P. N., A. Chatterjee: Specification-driven test generation for analog circuits. IEEE Trans. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 19, iss. 10, pp. 1189-1201.
• [2] Kamińska B., K. Arabi, et al.: Analog and mixed-signal benchmark circuits-first release. Proc. International Test Conference, 1997, pp. 183-190.
• [3] Golonek T., P. Jantos, J. Rutkowski: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing. Metrology and Measurement Systems, vol. XIX, iss. 1/2012.
• [4] Jantos P., T. Golonek, J. Rutkowski: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego. Przegląd Elektrotechniczny, iss. 10/2011, pp. 110-113.
• [5] Demir A., J. Roychowdhury: Modeling and simulation of noise in analog/mixed-signal communication systems. Proc. IEEE Custom Integrated Circuits, 1999, pp. 185-393.
• [6] Orfanidis S. J.: Introduction to Signal Processing. 2010.
• [7] Strzałkowski A., A. Śliżyński: Matematyczne metody opracowywania wyników pomiarów. PWN, 1978.
• [8] Jantos P., T. Golonek, J. Rutkowski: An Analogue Electronic Circuits Specification Driven Testing with the use of Time Domain Response's Features. Proc. 18th International Conference, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES'11, Gliwice, Poland.