An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features

• Autorzy: Jantos P. , Golonek T. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

PL

Sterowane specyfikacją układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi

• Konferencja: Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2011 (18 ; 16-18.06.2011 ; Gliwice, Poland)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono deterministyczną metodę testowania analogowych układów elektronicznych. Metoda ta bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi testowanego układu na wymuszenie w dziedzinie czasu. W zapisie odpowiedzi znajdowane są kolejne ekstrema. Specyfikacje układu testowanego są aproksymowane w przestrzenie zdefiniowanej czasem wystąpienia oraz wartością kolejnych cech odpowiedzi. Prosty, deterministyczny system ekspercki pozwala na stwierdzenie, czy testowany układ spełnia założenia specyfikacji. Prezentowana metoda testowania została zweryfikowana z wykorzystaniem przykładu obliczeniowego - filtru dolnoprzepustowego.

EN

This paper presents a deterministic method of analogue electronic circuits' specification driven testing. This method is based on an analysis of a circuit-under-test time-domain response's to a pulse excitation. We are extracting the response's and its first order derivative minima and maxima locations. Then, the tested circuit's specifications are mapped into response's features planes. At the test stage, extracted reaponse's features are used to predict specifications values. The decision about the test result (GO/NO-GO) is made with a simple deterministic inference system. Our testing method has been verified with a use of an exemplary circuit, a low-pass filter.

Słowa kluczowe

PL

testowanie sterowane specyfikacją; triangulacja Delaunaya; układy analogowe

EN

specification driven testing; Delaunay's triangulation; analogue circuits

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 12
• Strony: 65--68
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., wykr., rys.

Twórcy

autor

Jantos P.

autor

Golonek T.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska w Gliwicach, Instytut Elektroniki

Bibliografia

• [1] Milor L. S.: A Tutorial Introduction to Research of Analog and Mixed-Signal Circuit Testing. IEEE Trans. on Cir. and Syst. - II, Analog and Dig. Sig. Proces., vol. 45, issue 10, pp. 1389-1407. 1998.
• [2] Kaminska B., and Arabi K. and Bell I. and et al.: Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits - First Release. Proc. 1997 IEEE International Test Conference, pp. 183-190, USA, 1997.
• [3] Golonek T., Grzechca D., and Rutkowski J.: Analog 1C Fault Diagnosis by Means of Supply Current Monitoring in Test Points Selected Evolutionarily. Proc. ICSES 2010, pp. 397-400, Poland, 2010.
• [4] Jantos P., Grzechca D., and Rutkowski J.: Faults Identification in Analogue Electronic Circuits. Metrology and Measurement Systems, vol. XVI, no. 3/2009, pp. 391-402, Poland, 2009.
• [5] Jantos P., Grzechca D., and Rutkowski J.: An analogue electronic circuits diagnosis with the use of evolutionary algorithms. Proc. Signals and Electronic Systems (ICSES), pp. 289-292, Poland, 2010.
• [6] Chakrabarti S., Chatterjee A.: Compact Fault Dictionary Construction for Efficient Isolation of Faults in Analog and Mixed-Signal Circuits. 20th Anniversary Conference on Advanced Research in VLSI, pp. 327-341, USA.
• [7] Cherubal S., Chatterjee A.: Test generation based diagnosis of device parameters for analog circuits. Design Automation and Test in Europe 2001, pp. 596-602, Germany, 2001.
• [8] Tadeusiewicz M., Sidyk P., and Haigas S.: A method for multiple fault diagnosis in analogue circuits. Proc. European Conference on Circuit Theory and Design, 834-837, 2007.
• [9] Czaja Z., Zielonko R.: On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multi-dimensional spaces. Measurement 35 (3), 293-301, 2004.
• [10] de Berg M., Cheong O. and van Kreveld M. and Overmars M.: Computational Geometry - Algorithms and Applications. Springer, 2008.
• [11] Korzybski M.: Dictionary Method for Multiple Soft and Catastrophic Fault Diagnosis Based on Evolutionary Computation. Proc. International Conference on Signals and Electronic Systems, pp. 553-556, Poland, 2008.