The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing

• Autorzy: Golonek T. , Jantos P. , Grzechca D.

Warianty tytułu

PL

Wykorzystanie pary specjalizowanych pobudzeń wielopasmowych do testowania analogowych układów elektronicznych

• Konferencja: Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2011 (18 ; 16-18.06.2011 ; Gliwice, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper presents the method of an analog functional testing which applies a non-periodic responses analyzing during the testing stage. The difference of energy levels for responses obtained to a pair of optimized stimuli was engaged to a circuit state determination. The proposed testing excitations have multi-band spectra of amplitude densities and they are specialized for investigation of assumed specifications. The amplitude densities of stimuli are optimized by means of evolutionary computations. Each population of evolutionary system consists of real numbered vectors which contain approximation coefficients for spectra of multi-band stimuli candidates.

PL

W artykule opisano metodę funkcjonalnego testowania elektronicznych układów analogowych wykorzystującą analizę aperiodycznych odpowiedzi układu na wielopasmowe pobudzenia specjalizowane. Klasyfikacja poziomu wybranych specyfikacji obwodu jest dokonywana na podstawie oceny wartości różnicy energii otrzymanych dla pary zoptymalizowanych pobudzeń testujących. W celu osiągnięcia wysokiej skuteczności izolacji stanów obwodu testowanego, funkcje gęstości widmowych pobudzeń specjalizowanych są optymalizowane na etapie przed testowym w toku ewolucji różnicowej. Populacja osobników systemu ewolucyjnego zawiera zestawy rzeczywistych współczynników aproksymujących funkcje kodujące potencjalne spektra częstotliwościowe pobudzeń.

Słowa kluczowe

EN

analog faults detection; testing stimuli; evolutionary computations; amplitude density

PL

detekcja uszkodzeń analogowych; pobudzenie testujące; obliczenia ewolucyjne; gęstość widmowa amplitudy

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 12
• Strony: 47--49
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., wykr., rys.

Twórcy

autor

Golonek T.

autor

Jantos P.

autor

Grzechca D.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Milor L. S.: A Tutorial Introduction to Research on Analog and Mixed-Signal Circuit Testing. IEEE Trans, on Cir. and Syst.-ll. Analog and Dig. Sig. Proces., vol. 45, no. 10, pp. 1389-1407,1998.
• [2] Załęski D., Zielonko R., Bartosiński B.: Application of Complementary Signals in Built-in Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems. IEEE Trans, on Inst. and Measure., vol. 59, no. 2, pp. 345-352, 2010.
• [3] Tadeusiewicz M., Halgas S.: Multiple catastrophic fault diagnosis of linear circuits considering the component tolerances, in Proc. ECCTD, 2009, pp. 647-650.
• [4] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J.: Analog 1C Fault Diagnosis by Means of Supply Current Monitoring in Test Points Selected Evolutionarily. in Proc. ICSES 2010, pp. 397-400.
• [5] Jantos P., Grzechca D., Rutkowski J.: Global parametric faults identification with the use of Differential Evolution, in Proc. DDECS, 2009, pp. 222-225.
• [6] Ken Price, Rainer Storn, and Jouni Lampinen: Differential Evolution - A Practical Approach to Global Optimization. Springer, Berlin, 2005.
• [7] http://www.ti.com/tool/filterpro