System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych

• Autorzy: Marszałek K. , Sobków Z. , Stapiński T.

Warianty tytułu

EN

The measuring system to investigation of profiles of thin-layer arrangements the electrochromic

• Konferencja: Konferencja Techniki Próżni. 9 ; Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials ; 6-9.06.2011; Cedzyna, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Cienkowarstwowe systemy elektrochromowe (EC) znajdują coraz szersze zastosowanie w szeregu dziedzin techniki takich jak elektronika czy architektura. Niniejsza praca prezentuje budowę systemu pomiarowego do badania dynamicznych charakterystyk optycznych i elektrycznych oraz wyniki badań własności cienkowarstwowych systemów elektrochromowych zbudowanych na bazie tlenku wolframu WO₃. Badania właściwości elektrochromowych przeprowadzane w tym systemie obejmują analizę odpowiedzi czasowej (optycznej i elektrycznej) na wymuszenie w postaci napięciowego skoku jednostkowego. W celu przeprowadzenia jednoczesnego badania obu rodzajów charakterystyk zbudowano system pomiarowy opisany w pracy.

EN

Thin film electrochromic (EC) systems are applied in different fields like electronics or architecture. The design of measuring system for investigation of dynamic optical and electrical characteristies and the results of investigation of the properties of the thin film electrochromic system based on tungsten oxide WO₃ are presented in this paper. The investigations of the electrochromic properties consists of the analysis of time dependent response (optical and electrical) for step like voltage. For simultaneous investigations both type characteristies presented system was built.

Słowa kluczowe

PL

elektrochromizm; system pomiarowy; LabVIEW

EN

electrochromism; measuring system; LabVIEW

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 8
• Strony: 68--69
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Marszałek K.

autor

Sobków Z.

autor

Stapiński T.

• Akademia Górniczo-Hutnicza, Katedra Elektroniki, Kraków

Bibliografia

• [1] Azimirad R., Akhavan O., Moshfegh A. Z.: Vacuum, 85, (2011), 810-819.
• [2] Kraft A., Rottmann M.: Solar Energy Materials & Solar Cells, 93, (2009), 2088-2092.
• [3] Granqvist C. G.: Materials for good day-light in gand clean air: New vistas in electrochromism and photocatalysis. 50th Annual Technical Conference Proceedings, Society of Vacuum Coaters, Albuquerque, NM, USA, (2007), 561-567.
• [4] Mlyuka N. R., Niklasson G. A., Granqvist C. G.: Thermochromic multilayerfilms of VO2 and TiO2with enhanced transmittance. Solar Energy Materials & Solar Cells, 93, (2009), 1685-1687.
• [5] Buenaobra B. J.: Using NI-DAQ and LabVIEW to Construct a Prototype PC-Based Automated Optical Inspection System. [http://sine.ni.eom/cs/app/doc/p/id/cs-482]
• [6] Marszałek K., Sobków Z., Cioruń J.: Sterownik procesu rozpylania pracujący w środowisku LabVIEW. Elektronika: konstrukcje, technologie, zastosowania, 1, (2009), 102-104.
• [7] Marszałek K., Sobków Z., Pisarkiewicz T.: System do testowania wyświetlaczy LCD pracujący w środowisku LabVIEW. Elektronika: konstrukcje, technologie, zastosowania, 9, (2009), 85-86.
• [8] Klinger T.: Image Processing with LabVIEW and IMAQ Vision. Prentice Hall PTR, 2003.
• [9] Kehtarnavaz N.: Digital signal processing system. Academic Press, 2008.