Rozpoznawanie uszkodzeń parametrycznych, w nieliniowych układach analogowych, przy wykorzystaniu transformacji falkowej i sztucznej sieci neuronowej

• Autorzy: Kuczyński A.

Warianty tytułu

EN

Parametric fault diagnosis in nonlinear analog circuits based on wavelet packet and neural network

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule omówiono zasady działania opracowanego algorytmu rozpoznawania uszkodzeń parametrycznych w nieliniowych, analogowych układach elektronicznych, przy wykorzystaniu banku filtrów utworzonego na podstawie dyskretnej transformacji falkowej jako narzędzia przetwarzania wstępnego i jednokierunkowej sieci neuronowej jako algorytmu aproksymującego cechy układu. W treści zamieszczono przykład ilustrujący działanie prezentowanej metody.

EN

In this paper, neural network algorithm of parametric fault diagnosis for nonlinear, analog circuits using bank of filters set up basing on a discrete wavelet transform as an instrument of preliminary data processing and feedforward neural network as approximation tool is presented. The illustrative numerical example is presented.

Słowa kluczowe

PL

analiza uszkodzeń; uszkodzenia parametryczne; dyskretna transformata falkowa; sztuczne sieci neuronowe

EN

fault diagnosis; analog circuit; parametric faults; dictionary method; wavelet transform; neural networks

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 9
• Strony: 72--75
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Kuczyński A.

• Politechnika Łódzka, Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki

Bibliografia

• [1] Mismar D., Soukosov E., Algadi B.: Transmission Zeros Based Fault Testing of Analog Circuits. Jordan Journal of Applied Science, vol. 2, pp. 62-70, 2003.
• [2] Chatterjee A.: Concurrent Error Detection and Fault Tolerance in Linear Analog Circuit using continuous Checksums. IEEE Trans. VLSI Systems Vol. 1, no 2, pp. 138-150, 1993.
• [3] Horning L. K., et al: Measurements of Quiescent Power Supply Current for CMOS ICs in Production Testing. Proc. Int. Test Conf., 1987, pp. 300-309.
• [4] Soden J. M., Hawkins R.: IDDQ Testing and Defect Classes. Proc. IEEE Custom Int. Circuits Conf., 1995, pp. 633-642.
• [5] Segura J., Roca M., Mateo D., Rubio A.: Built-in dynamic current sensor circuit for digital VLSI CMOS testing. Electronics Letters, vol. 30, pp. 1668-1669, 1994.
• [6] Su S-T., Makki R. Z., Nagle T.: Transient Power Supply Current Monitoring - A New Test Method for CMOS VLSI Circuits. JETTA, vol. 6, pp. 23-43, 1995.
• [7] Stopjakova V., Manhaeve H., Sidiropulos M.: On-chip Transient Current Monitor for Testing of Low-Voltage CMOS IC. Proc. Design. Autom, and Test in Europe, 1999, pp. 538-542.
• [8] Bell I. M., Camplin D. A., Taylor G. E., Bannister B. R.: Supply Current Testing of Mixed Analogue and Digital Ics. Electronics Letters, vol. 27, pp. 1581, August 1991.
• [9] Arguelles J., Martinez M., Bracho S.: Dynamic IDD test circuit for mixed-signal Ics. Electronics Letters, vol. 30, pp. 485-486, 1994.
• [10] Spina R., Upadhyays S.: Linear Circuit Fault Diagnosis using Neuro-Morphic Analyzer. IEEE Trans. Circuits Syst. II, vol. 44, pp. 188-196, Mar. 1997.
• [11] Maiden Y., Jervis B. W., Fouillat R., Lesage S.: Using Artificial Neural Networks or Lagrange Interpolation to characterize the fault in an Analog Circuit: an Experiment Study. IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 48, pp. 932-938, Oct. 1999.
• [12] Catelani M., Gori M.: On the application of several Neural Network to Fault Diagnosis of Electronic Analog Circuits. Measurement, vol. 17, pp. 73-80, 1996.
• [13] Aminian M., Aminian F.: Neural-Network Based Analog-Circuit Fault Diagnosis Using Wavelet Transform as Preprocessor. IEEE Trans. Circuits and Systems, CAS-II, Vol. 47. No. 2, 2000, pp. 151-156.
• [14] Stopjakova V., Malosek P., Matej M., Durackova D.: Neural Network-Based Detection of Catastrophic Defects in Analog IC using Wavelet Decomposition. IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April, 2004, pp. 51-58.
• [15] Kuczyński A., Ossowski M.: Diagnozowanie uszkodzeń w analogowych obwodach nieliniowych przy zastosowaniu sieci neuronowych i transformeji falkowe. KKE'09, Kołobrzeg 2009.