Uniwersalny sterownik na bazie mikrokontrolera ATmega128 dla mikroskopii bliskich oddziaływań

• Autorzy: Garczyński K. , Zielony M. , Zawierucha P. , Kopiec D. , Gotszalk T.

Warianty tytułu

EN

Universal driver for scanning probe microscopy based on ATmega128 microcontroller

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia konstrukcję i zastosowanie tanich i uniwersalnych sterowników dla systemów pomiarowych w mikroskopii bliskich oddziaływań. Głównym założeniem projektu jest minimalizacja kosztów budowy takiego systemu poprzez zastąpienie głównej jednostki sterującej, zbudowanej na procesorze sygnałowym, mikrokontrolerem jednoukładowym oraz logiką programowalną. Przedstawione zostaną algorytmy komunikacji między magistralą sterującą i komponentami systemu (karty ADC, DAC) oraz wyniki pomiarów.

EN

This paper shows a construction of universal and Iow cost control drivers for measure systems using in atomic force and scanning microscopy. Main point of this project is to minimize cost of this system and replace main central processing unit, expensive signal processor, by 8bits microcontroller and programmable logic device. l'd like to show algorithms describing Communications with PC, system components like Analog-Digital and Digital-Analog cards and present some measure effects.

Słowa kluczowe

PL

mikroskop skaningowy; mikrokontrolery; logika programowalna; system pomiarowy

EN

scanning microscopy; microcontrollers; programmable logic devices; measuring system

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 9
• Strony: 69--72
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Garczyński K.

autor

Zielony M.

autor

Zawierucha P.

autor

Kopiec D.

autor

Gotszalk T.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• [1] Gotszalk T.: Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro- i nanostruktur. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2004.
• [2] Zielony M., Zawierucha R., Woszczyna M., Kolanek K., Klich M., Gotszalk T.: Sterownik oddziaływań w mikroskopii sił atomowych. V Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006, przyjęte do druku w materiałach konferencyjnych.
• [3] Nota ATmega128 [online]. Dostępny w Internecie: http://www.atmel.com/atmel/acrobat/doc2467.pdf
• [4] Nota XC95144XL [online]. Dostępny w Internecie: http://www.xilinx.co m/support/documentation/data_sheets/ds056.pdf
• [5] Nota FT232RL [online]. Dostępny w Internecie: http://www.ftdichip.com/Documents/DataSheets/DS FT232 R.pdf