Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych

• Autorzy: Golonek T. , Grzechca D. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

EN

Analog circuit diagnosis by power supply current monitoring in evolutionarily selected test points

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaprezentowano ewolucyjną metodę optymalizacji zestawu punktów pomiarowych, stosowanych do diagnostycznej identyfikacji stanu analogowego układu scalonego. Z uwagi na ograniczony dostęp do struktury układu, diagnoza jest ustalana poprzez monitorowanie statycznego poziomu prądu zasilania, tj. metodą testowania IDDQ. Dodatkowo, w celu poprawy obserwowalności diagnostycznej, pomiar prądu zasilania układu scalonego jest wykonywany dla różnych wartości napięć: zasilania VDD i pobudzenia VIN. Podczas optymalizacji ewolucyjnej, ustalany jest minimalny zbiór kombinacji wartości napięć, który zapewni najlepszą możliwą separację stanów identyfikowanych. Wprowadzenie marginesu niejednoznaczności zapewnia odporność metody na rozrzut tolerancyjny parametrów analogowej struktury scalonej oraz na inne praktyczne ograniczenia dokładności i powtarzalności punktów pomiarowych.

EN

An evolutionary method for optimal analog test poins determination is described in this paper. Due to limited access to internal nodes of analog integrated circuits, the power supply current monitoring is selected for fault identification (IDDQ aproach). Additionally, for fault coverage improvement, the current is measured for different values of voltages for: power supply VDq and stimulus VDD. The minimal set of test points is determined evolutionarily and it gives the best possible isolation for identified circuit states with minimal time of testing. The use of ambiguity sets assures the resistance of the approach for tolerance dispertion of analog circuit parameters and for limitation of accuracy and repeatibility of test point.

Słowa kluczowe

PL

genotyp; populacja; reprodukcja; krzyżowanie; mutacja; diagnostyka; analogowy układ scalony; monitorowanie prądu zasilania

EN

genotype; population; reproduction; crossover; mutation; fault diagnosis; analog integrated circuits; supply current monitoring

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 9
• Strony: 17--20
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., wykr.

Twórcy

autor

Golonek T.

autor

Grzechca D.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Somayajula S. A. S., Sanchez-Sinencio E., Pineda de Gyvez J.: Analog fault diagnosis based on ramping power supply current signature clusters. IEEE Trans. Circuits Syst.-II, vol. 43, no. 10, pp. 703-712, 1996.
• [2] Kilic Y., Zwoliński M.: Testing analog circuits by supply voltage variation and supply current monitoring. IEEE Custom Integrated Circuits Conference, CICC'99, 1999.
• [3] Bell I. M., Spinks S. J., Machado da Silva J.: Supply current test of analogue and mixed signal circuits. IEE Proceedings - Circuits, Devices and Systems, vol. 143, no. 6, pp. 399-407, 1996.
• [4] Chalk C., Zwoliński M.: A Design for Test Technique to Increase the Resolution of Analogue Supply Current Tests. Electronic Letters, vol. 33, no. 21, 1997.
• [5] Milor L. S.: A Tutorial Introduction to Research on Analog and Mixed-Signal Circuit Testing. IEEE Trans. on Cir. and Syst.-II, Analog and Dig. Sig. Proces., vol. 45, no. 10, pp. 1389-1407, 1998.
• [6] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J.: Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego. Przegląd Elektrotechniczny (Electrical Review), ISSN 0033-2097, nr 11, ss. 135-138,2009.