Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Using of X-Ray fluorescence specrtometr for analysis of electronic elements and PCBs complying with RoHS directive
Języki publikacji
Abstrakty
Rentgenowska spektrometria fluorescencyjna jest techniką, która w szybki nieniszczący sposób umożliwia analizę zarówno podzespołów jak i uzbrojonych płytek. W ten sposób wybiera się tylko miejsca, które muszą zostać poddane dokładnej analizie technikami mokrymi.
X-ray fluorescence spectroscopy is a nondestructive and fast technique, it enables both analysis of printed current boards and elements. Only selected peaces can be further examined by more pricy techniques such as ICP.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
90--92
Opis fizyczny
wykr., il.
Twórcy
autor
- Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWAD-0017-0054