Wykorzystanie fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego (XRF) w analizie elementów elektronicznych i płytek drukowanych na zgodność z dyrektywą RoHS

• Autorzy: Kościelski M.

Warianty tytułu

EN

Using of X-Ray fluorescence specrtometr for analysis of electronic elements and PCBs complying with RoHS directive

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Rentgenowska spektrometria fluorescencyjna jest techniką, która w szybki nieniszczący sposób umożliwia analizę zarówno podzespołów jak i uzbrojonych płytek. W ten sposób wybiera się tylko miejsca, które muszą zostać poddane dokładnej analizie technikami mokrymi.

EN

X-ray fluorescence spectroscopy is a nondestructive and fast technique, it enables both analysis of printed current boards and elements. Only selected peaces can be further examined by more pricy techniques such as ICP.

Słowa kluczowe

PL

pomiary XRF; rentgenowska spektroskopia fluorescencyjna; zgodność z RoHS

EN

XRF measurements; X-ray fluorescence spectroscopy; RoHS compaliance

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 50, nr 7
• Strony: 90--92
• Opis fizyczny: wykr., il.

Twórcy

autor

Kościelski M.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa