Identification of inherent noise components of semiconductor devices on an example of optocouplers

• Autorzy: Stawarz-Graczyk B. , Szewczyk A. , Konczakowska A.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In the paper, a method of estimation of parameters of Gaussian and non-Gaussian components in the noise signal of semiconductor devices in a frequency domain is proposed. The method is based on composing estimators of two spectra, corresponding to 1/f^α noise (Gaussian component) and two-level RTS noise (non-Gaussian component). The proposed method can be applied for precise evaluation of the corner RTS frequency fRTS in the noise spectrum.

Słowa kluczowe

EN

noise; RTS noise; Gaussian component; non-Gaussian component; optocouplers; spectra estimating

• Wydawca: Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; Polska Akademia Nauk ; Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Opto-Electronics Review
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 17, No. 3
• Strony: 236--241
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., wykr.

Twórcy

autor

Stawarz-Graczyk B.

autor

Szewczyk A.

autor

Konczakowska A.

• Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics, Gdańsk University of Technology, 11/12 Narutowicza Str., 80-952 Gdańsk, Poland.,

Bibliografia

• [1] A. Konczakowska, J. Cichosz, A. Szewczyk, and B. Stawarz: Identification of optocoupler devices with RTS noise. Fluctuation and Noise Letters 6, L395-L404, 2006.
• [2] A. Konczakowska, J. Cichosz, and A. Szewczyk: A new method for identification of RTS noise. Bull. Pol. Ac.: Tech. 54, 457-460, 2006.
• [3] A. Konczakowska, J. Cichosz, and A. Szewczyk: A new method for RTS noise of semiconductor devices identification. IEEE T. Instrum. Meas. 57, 1199-1206, 2008.
• [4] L. K. J. Vandamme and M. Macucci: 1/f and RTS noise in submicron devices: Faster is noisier. AIP Conf. Proc. 800, 436-443, 2005.
• [5] A. Konczakowska: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2006. (in Polish)
• [6] A. Konczakowska, J. Cichosz, and B. Stawarz: RTS noise in optoelectronic coupled devices. Proc. 18th Inter. Conf. Noise and Fluctuations ICNF'2005, Salamanca, 669-672, 2005.
• [7] A. Konczakowska, J. Cichosz, A. Szewczyk, and B. Stawarz: Analysis of noise properties of the optocoupler device. Opto-Electron. Rev. 15, 149-153, 2007.
• [8] A. Balicki and W. Makać: Metody wnioskowania statystycznego. Wydawnictwo Uniwersytetu Gdańskiego, 2002. (in Polish)
• [9] S. Lesiski: Wzory i tablice do obliczeń niezawodności urządzeń elektrycznych. Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 1995. (in Polish)
• [10] B. Stawarz-Graczyk, J. Cichosz, and A. Konczakowska: Szumowy model transoptora z uwzględnieniem źródeł szumów typu 1/f α. Materiały VI Krajowej Konferencji Elektroniki, KKE' 2007, Darłówko Wschodnie, tom 2, 461-466, 2007. (in Polish)
• [11] B. Stawarz-Graczyk, J. Cichosz, and A. Konczakowska: The noise macromodel of an optocoupler including noise source. Bull. Pol. Ac.: Tech. 56, 59-63, 2008.