Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego

• Autorzy: Mocha J. , Łaskarzewski Z.

Warianty tytułu

EN

Hardware part of universal testing station

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 7 ; 02-04.06.2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono budowę sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, przeznaczonego do końcowych elektrycznych testów urządzeń elektronicznych opuszczających linię produkcyjną. Na wstępie przedstawiono pokrótce metodykę testowania elektrycznego (testowanie funkcjonalne, ICT, kombinowane) oraz założenia projektowe, jakie musi spełniać zaprojektowana część sprzętowa testera. W dalszej części pracy przedstawiono architekturę testera, wraz z opisem budowy jego poszczególnych bloków oraz opisem zaprojektowanego obwodu drukowanego. Przedstawiona część sprzętowa stanowiska testującego jest zasadniczym elementem całego systemu, którym steruje oprogramowanie uruchamiane na komputerze PC. Do komunikacji pomiędzy testerem, a oprogramowaniem sterującym wykorzystana została sieć Ethernet oraz protokół TCP/IP.

EN

The paper describes construction of the universal in-circuit tester. It is dedicated for final testing of electronic devices after manufacturing. There are presented basic methodologies of electrical tests (functional testing, in-circuit testing, mixed). There are also given design requirements for the tester and its architecture in detail including description of each functional block and the PCB design. Presented tester is the fundamental component of the testing system. It works under control of a program running on a PC. The tester uses the Ethernet network and the TCP/IP protocol for control and data transmission.

Słowa kluczowe

PL

testy wewnątrzobwodowe (ICT); testowanie funkcjonalne; matryca wieloigłowa; ATE; mikrokontroler; układ programowalny; konwerter protokołów; Ethernet

EN

In-Circuit Testing; ICT; functional testing; bed of nails; ATE; microcontroller; programmable logic device; protocol converter; Ethernet

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 11
• Strony: 184--186
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Mocha J.

autor

Łaskarzewski Z.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Agilent Technologies, materiały dotyczące systemu testowania Medalist, www.agilent.com.
• [2] DIGI, dokumentacja modułu DIGI CONNECT EM, www.diqi.com.
• [3] EMC Compliance Club, Zagadnienia kompatybilności elektromagnetycznej, www.compliance-club.com.
• [4] Hławiczka A. (praca zbiorowa): Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Skrypt Politechniki Śląskiej nr 1586, Gliwice 1990.
• [5] Mielczarek W.: Komputerowe systemy pomiarowe: standardy IEEE-488.2 i SCPI. Skrypt Politechniki Śląskiej nr 2309, Gliwice 2002.
• [6] Mocha J.: Praca magisterska "Uniwersalne stanowisko testujące", Politechnika Śląska, Gliwice 2007.
• [7] Sowiński A.: Automatyczne testowanie w mikroelektronice. WKŁ, Warszawa 1991.
• [8] Texas Instruments, nota katalogowa: SN74LVC1T45, Texas Instruments 01/2007.
• [9] XILINX, nota katalogowa: "CoolRunner XPLA3 CPLD", XILINX 03/2006.