Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych

• Autorzy: Chruszczyk Ł. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

EN

Enhancement of parametric faults diagnosis

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 7 ; 02-04.06.2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Opisano projektowanie kształtu specjalizowanego, aperiodycznego pobudzenia. Celem jest zwiększenie skuteczności lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych. Takie uszkodzenia należą do grupy najtrudniej diagnozowalnych. Dalszą poprawę skuteczności diagnostyki uzyskano po zastosowaniu ekstrakcji cech za pomocą transformaty falkowej. Uzyskane wyniki porównano z diagnostyką przeprowadzoną za pomocą najprostszego pobudzenia aperiodycznego - funkcji skoku oraz z diagnostyką bez ekstrakcji cech.

EN

This article presents design of specialised aperiodic excitation. Purpose is improvement of fault diagnosis of analogue electronic circuits. The goal is enhancement of a single parametric (soft) faults location. Such faults are one of the most difficult to diagnose. Further improvement is achieved after utilising wavelet transform as a feature extractor. Obtained results are compared with fault diagnosis by means of the simplest aperiodic function: step function - and with dianosis without feature extraction.

Słowa kluczowe

PL

lokalizacja uszkodzeń parametrycznych; diagnostyka uszkodzeń; słownik uszkodzeń; elektronika analogowa; transformata falkowa; algorytm genetyczny

EN

parametric (soft) fault location; fault diagnosis; fault dictionary; analogue electronics; wavelet transform; genetic algorithm

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 11
• Strony: 163--166
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Chruszczyk Ł.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, Gliwice

Bibliografia

• [1] Rutkowski J.: Dictionary diagnostic methods, (in Polish), WKŁ 2003.
• [2] Chruszczyk Ł., Rutkowski J.: Excitation optimization in fault diagnosis of analogue electronic circuits. IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS 2008 (in press)
• [3] Grzechca D., Chruszczyk L.: Wavelet - Neural Network to Analogue Parametric Fault Circuit Location. 13th Intern. Mixed Signals Testing Workshop and 3rd GHz/Gbps Test Workshop, IMSTW & GTW 2007, Povoa de Varzim, Portugal, pp. 2-6.
• [4] Daubechies I.: Ten lectures on wavelets. CBMS, SIAM, 61, 1994, 194-202.
• [5] Goldberg D. E.: Genetic Algorithms in Search, Optimization & Machine Learning. Addison-Wesley, 1989.
• [6] Kaminska B., et al.: Analogue and mixed-signal benchmark circuits-first release. International Test Conference, 1-6 Nov. 1997, Proc. pp. 183-190.
• [7] Matlab Genetic Algorithm and Direct Search Toolbox v. 2.1.
• [8] Matlab Wavelet Toolbox v. 4.0.