Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej

• Autorzy: Strąkowski M. , Kosmowski B. B. , Pluciński J.

Warianty tytułu

EN

Examitation of subsurface inhomogeneity of PLZT ceramics using optical low-coherence interferometry

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 7 ; 02-04.06.2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania nad możliwościami wykorzystania niskokoherentnych interferometrycznych technik pomiarowych do kontroli i optymalizacji procesów wytwarzania ceramicznych warstw PLZT.

EN

In this article we describe an optical method for inside materials investigation, which is based on low-coherence interferometry (LCI). The experimental LCI system applied in optical coherence tomography (OCT) for non-destructive and non-contact examination of materials inner inhomogeteities is presented. The test results of PLZT ceramics investigation are shown as well as brieff discussion about OCT capability for on-line control of PLZT ceramics manufacturing process.

Słowa kluczowe

PL

interferometria niskokoherentna; optyczna tomografia koherentna; ceramika PLZT

EN

OCT; low-coherence interferometry; PLZT ceramics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 11
• Strony: 83--86
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Strąkowski M.

autor

Kosmowski B. B.

autor

Pluciński J.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

Bibliografia

• [1] Strąkowski M., Pluciński J., Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Maciejewski M., Kosmowski B. B.: Polarization sensitive optical coherence tomography for technical materials investigation. Sensors and Actuators A, vol. 142, pp. 104-110, 2008.
• [2] Pluciński J., Strąkowski M., Kosmowski B. B.: Optyczna tomografia niskokoherentna w badaniach obiektów technicznych, Elektronika, 9/2007, ss. 37-38, 2007.
• [3] Asefzadeh B., Ninyo K.: Longitudinal analysis of retinal changes after branch retinal artery occlusion using optical coherence tomography. Optometry, vol. 79, pp. 85-89, 2008.
• [4] Wiesauer K., Pircher M., Götzinger E., Hitzenberger C. K., Engelke R., Grützner G., Ahrens G., Oster R., Stifter D.: Measurement of structure and strain by transversal ultra-high resolution polarisation-sensitive optical coherence tomography. Insight, vol. 49 (5), pp. 275-278, 2007.
• [5] Fabritius T., Alarousu E., Prykari T., Hast J., Myllylä R.: Characterisation of optically cleared paper by optical coherence tomography. Quantum Electronics, vol. 36 (2), pp. 181-187, 2006.
• [6] Kim Y., Seo Choi E., Kwak W., Shin Y., Jung W., Ahn Y. C., Chen Z.: Three-dimensional non-destructive optical evaluation of laser processing performance using optical coherence tomography. Optics and Laser Technology, vol. 40, pp. 625-631, 2008.
• [7] Targowski P., Góra M., Wojtkowski M.: Optical Coherence Tomography for Artwork Diagnostics. Laser Chemistry, vol. 2006, Article ID 35373, 2006.
• [8] Góra M., Pircher M., Götzinger E., Bajraszewski T., Strlic M., Kolar J., Hitzenberger C. K., Targowski P.: Optical Coherence Tomography for Examination of Parchment Degradation. Laser Chemistry, vol. 2006, Article ID 68679, 2006.