Przyrządy wirtualne w badaniu zjawisk fluktuacyjnych w wielokońcówkowych elementach biernych

• Autorzy: Stadler A. W.

Warianty tytułu

EN

Virtual instruments in fluctuation phenomena studies in multi-terminal passive elements

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki. 7 ; 02-04.06.2006 ; Darłówko Wschodnie, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono opis budowy analizatora sygnału szumowego skonstruowanego do badań szumu w zakresie małych częstotliwości w pasywnych elementach wielokońcówkowych. Wykorzystano koncepcję przyrządu wirtualnego oraz algorytm FFT. Przeprowadzono przykładowe pomiary właściwości szumowych rezystora grubowarstwowego RuO2 -szkło w celu weryfikacji poprawności działania analizatora. Zmierzony szum miał widmo 1/f. Dokładniejsza analiza przebiegów mocy w pasmach oktawowych ujawniła, że w oktawach o dużych numerach pojawia się niegaussowski składnik szumu. Duża liczba pasm oktawowych wziętych do analizy widm drugiego rzędu pokazała zalety opracowanego analizatora, pozwalając na dokładniejsze pomiary w porównaniu z możliwościami jakie dają urządzenia seryjnie produkowane.

EN

A construction of Noise Signal Analyzer developed for low-frequency noise studies in multi-terminal passive electronics devices has been described. FFT-based architecture and virtual instrument concept have been engaged to prototype the instrument. A simple experiment on noise in RuO2-glass multi-terminal resistors has been performed to verify operation of the Analyzer. It has been found that the noise in studied samples is of 1/f shape. A more detailed analysis of powers in octave bands revealed that in higher octaves non-Gaussian component appeared. Large number of octave bands taken into account during second spectra analysis confirmed usefulness of Analyzer which allows for more detailed analysis as compared to commercial instruments.

Słowa kluczowe

PL

przyrząd wirtualny; analiza oktawowa sygnału; szum 1/f; szum rezystancyjny; rezystor grubowarstwowy; warstwa RuO2; szkło

EN

virtual instrument; octave analysis; 1/f noise; low-frequency noise; thick film resistor; RuO2-glass layer

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 11
• Strony: 25--28
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., wykr.

Twórcy

autor

Stadler A. W.

• Politechnika Rzeszowska, Katedra Podstaw Elektroniki, Rzeszów

Bibliografia

• [1] Stadler A. W., Kolek A., Zawiślak Z. i in.: Ocena cech gaussowskich szumu rezystora RuO2-szkło w zakresie niskich temperatur. V KKE, 2006, t. 2, ss. 401-406.
• [2] Goldberg H.: What is Virtual Instrumentation? IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, December 2000, pp. 10-13.
• [3] Rak R. J.: Wirtualny przyrząd pomiarowy - realne narzędzie współczesnej metrologii. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2003.
• [4] Parman C. E., Israeloff N. E., Kakalios J.: Conductance-Noise Power Fluctuations in Hydrogenated Amorphous Silicon. Phys. Rev. Lett. 69, pp. 1097-1100, 1992.
• [5] Restle P. J., Hamilton R. J., Weissman M. B., Love M. S.: Non-Gaussian effects in 1/f noise in small silicon-on-sapphire resistors. Phys. Rev. B31, pp. 2254-2262, 1985.
• [6] Kolek A.: Szumy niskoczęstotliwościowe - metody badań eksperymentalnych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, 2006.
• [7] Stadler A. W.: Noise signal analyzer for multi-terminal devices. XXXI International Conference of IMAPS Poland Chapter, Rzeszów - Krasiczyn, 23-26 September 2007, pp. 413-416.