Badania in- situ zmian struktury nanokrystalitów Pd zachodzących pod wpływem wodoru

• Autorzy: Diduszko R. , Rymarczyk J. , Czerwosz E. , Kozłowski M. , Danila M.

Warianty tytułu

EN

The study in-situ structure changes of Pd nanocrystals under the influence of hydrogen

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań XRD (X-ray Diffraction) warstw C-Pd prowadzonych przy wykorzystaniu geometrii układu GIXD (Grazing-Incidence X-ray Diffraction - ślizgowa geometria promieniowania padającego) w specjalnej komórce pomiarowej umożliwiającej pomiary in situ w mieszaninie przepływających gazów N2/H2. Warstwy C-Pd otrzymano metodą PVD - fizycznego odparowywania w próżni fullerenu C60 i octanu palladu. W celu zwiększenia oraz zróżnicowania średnic nanoziaren Pd, warstwy wygrzewano w argonie w temperaturze 650°C. Warstwy C-Pd charakteryzowano metodami elektronowej mikroskopii skaningowej (SEM) oraz GIXD. Badania SEM pokazały topografię i morfologię warstw, w szczególności rozkład i wielkość ziaren Pd. Dzięki badaniom GIXD zaobserwowano zmiany struktury nanoziaren palladu pod wpływem wodoru występującego w mieszaninie gazowej. Ze wzrostem koncentracji wodoru zaobserwowano tworzenie się roztworu stałego wodoru w palladzie i następnie wodorku palladu.

EN

In this article we show the results of XRD (X-ray Diffraction) investigations of C-Pd films performed using the geometry of the GIXD (Grazing-Incidence X-ray Diffraction) in a special measuring cell allowing in situ measurements in a mixed flowing gas N2/H2. C-Pd films were prepared by PVD method i.e. Physical Vapor Deposition of fulleren C60 and palladium acetate. These films were annealed at 650°C in argon atmosphere to increase and to diversity of Pd nanograins diameters. C-Pd films were characterized using Scanning Electron Microscopy (SEM) and by GIXD. SEM studies showed the C-Pd films' topography and morphology in particular Pd nanograins size and their distribution. The structural changes in palladium nanograins under the influence of hydrogen were observed in situ GIXD measurements at gas mixture N2/H2. With the increase of hydrogen concentration in the mixture gas the formation of solid hydrogen solution in palladium and then palladium hydride were observed.

Słowa kluczowe

PL

pallad; wodór; XRD; SEM

EN

palladium; hydrogen; XRD; SEM

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2012
• Tom: Vol. 53, nr 8
• Strony: 94--97
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., il., tab., wykr.

Twórcy

autor

Diduszko R.

autor

Rymarczyk J.

autor

Czerwosz E.

autor

Kozłowski M.

autor

Danila M.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] Kozłowski M. i in.: Nanostructural palladium films for sensor applications. Vacuum 82, 956-961, (2008).
• [2] Zhao Z., Carpenter M. A., Xia H. et al.: Sens. Actuators B, 113, 532, (2006).
• [3] Jewell L. L., Davis B. H.: Applied Catalysis A General, 310, (2006), 1-15.
• [4] Borgese L. i in.: J. Coat. Technol. Res., 7 (6), 691-695, 2010.