System setup and software for impedance spectroscopy measurements

• Autorzy: Piasecki T. , Wroński M. , Dudek M. , Nitsch K.

Warianty tytułu

PL

System pomiarowy i oprogramowanie do badań metodą spektroskopii impedancyjnej

• Konferencja: Electron Technology Conference ELTE 2010. 10 ; International Microelectronics and Packing IMAPS-CPMT. 34 ; 22-25.09.2010 ; Wrocław, Poland
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Impedance spectroscopy measurement system was built and software for its control was written. The system consisted of two impedance analyzers designed for measurements in different frequency ranges. Wideband switch with low parasitic capacitance and inductance and current amplifier for high impedance measurements. Software allowed for measurement control and data acquisition. The examples of BaTiO ₃ nanoceramic measurements and thick film varistors are shown.

PL

Zestawiono stanowisko do pomiarów metodą spektroskopii impedancyjnej oraz opracowano dedykowane oprogramowanie do jego kontroli. System składał się z dwóch analizatorów impedancji przeznaczonych do pomiarów w różnych zakresach częstotliwości, szerokopasmowego przełącznika z małymi wartościami elementów pasożytniczych i wzmacniacza prądowego do pomiarów dużych impedancji. Oprogramowanie służyło do wykonania pomiaru i analizy jego wyników. Zaprezentowano przykłady pomiarów nanoceramiki BaTiO ₃ oraz warystorów grubowastwowych.

Słowa kluczowe

EN

impedance spectroscopy; measurement system

PL

spekroskopia impedancyjna; system pomiarowy

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 3
• Strony: 74--76
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Piasecki T.

autor

Wroński M.

autor

Dudek M.

autor

Nitsch K.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• [1] MacDonald J. R.: Impedance Spectroscopy: Emphasizing Solid Materials and Systems. John Wiley, 1987.
• [2] Borsukov E., MacDonald J. R.: Impedance spectroscopy. Theory, Experiment and Applications. John Wiley, 2005.
• [3] Nitsch K.: Zastosowanie spektroskopii impedancyjnej w badaniach materiałów elektronicznych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 1999.
• [4] 1260 Impedance/Gain-Phase Analyzer, Operating Manual. Schlumberger Technologies, Instruments Division, 1992.
• [5] Cutkosky R. D.: Four-terminal-pair networks as precision admittance and impedance standards. Communications and Electronics, 70 (1964) 19-22.
• [6] The Impedance Measurement Handbook, A Guide to Measurement Technology and Techniques. Agilent Technologies Co. Ltd 2003.
• [7] Piasecki T., Nitsch K., Pązik R., Stręk W.: Nanopowder grain size effect on the ac electric properties of Eu doped BaTiO3 na-noceramic. Journal of Physics: Conference Series, 146 012009.
• [8] Dudek M., Nitsch K., Dziedzic A.: Wide frequency range AC electrical characterization of thick-film microvaristors. ELTE 2010, 22-25 September 2010, Wrocław, Poland, to be published.