A low-cost impedance measurement technique for thick-film electronic components diagnostics

• Autorzy: Dudek M. W. , Nitsch K. , Dziedzic A.

Warianty tytułu

PL

Niskobudżetowa technika pomiaru impedancji na potrzeby diagnostyki elementów grubowarstwowych

• Konferencja: Electron Technology Conference ELTE 2010. 10 ; International Microelectronics and Packing IMAPS-CPMT. 34 ; 22-25.09.2010 ; Wrocław, Poland
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper propose middle and low frequency impedance measurement technique based on the use of PC and general purpose electric measurement devices available in typical laboratory. The use of PC for impedance calculations enables the implementation of advanced error compensation and digital signal processing algorithms. System accuracy for two types of voltage perturbation is tested and measurement accuracy is calculatet. Example of system use for thick-film components post-fabrication diagnostics is presented.

PL

W pracy zaprezentowano technikę pomiaru impedancji elektrycznej w zakresie średnich i niskich częstotliwości. Technika ta wykorzystuje komputer oraz aparaturę pomiarową ogólnego zastosowania dostępną w każdym typowym laboratorium elektronicznym. Zastosowanie komputera do przetwarzania danych pomiarowych pozwala na zaimplementowaniu zaawansowanych algorytmów przetwarzania sygnałów i kompensacji błędu metody. Wyznaczono niepewności pomiarowe dla dwóch rodzajów proponowanego pobudzenia próbki. Zaprezentowano przykład wykorzystania prezentowanego systemu do kontroli technologicznej przy wytwarzaniu elementów grubowarstwowych.

Słowa kluczowe

EN

impedance; virtual instruments

PL

impedancja; przyrządy wirtualne

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 3
• Strony: 57--60
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Dudek M. W.

autor

Nitsch K.

autor

Dziedzic A.

• Wrocław University of Technology, Faculty of Microsystem Electronics and Photonics

Bibliografia

• [1] Barsoukov E., Macdonald J. R., (editors): Impedance spectroscopy. Theory, experiment and applications. John Wiley & Sons, 2005.
• [2] Wellstead P. E.: Frequency response analysis. Technical report 10. Solartron Instruments, 1997.
• [3] Agilent Impedance Measurement Handbook - a guide to measurements technology and techniques, 4th Edition, Agilent Technologies, 2009.
• [4] Miś E., Dziedzic A., Piasecki T., Kita J., Moos R.: Geometrical. Electrical and stability properties of thick-film and LTCC microcapacitors. Microelectronics Int, 2008.
• [5] Miś E., Dziedzic A., Mielcarek W.: Microvaristors in thick-film and LTCC circuits. Microelectronics Reliability, vol. 49 (2009), pp. 607-613.