Wpływ wysokiej temperatury na przebieg charakterystyk widmowych detektorów

• Autorzy: Ćwirko R. , Ćwirko J.

Warianty tytułu

EN

Influence of high temperature on the course of the spectral characteristics of detectors

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Detektory UV, VIS i NIR są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. Prezentowany w artykule system badawczy jest przeznaczony głównie do wysokotemperaturowych pomiarów charakterystyk widmowych detektorów w zakresach UV, VIS i NIR. System został opracowany w Wojskowej Akademii Technicznej. W artykule przedstawiono wyniki zależności charakterystyk widmowych od temperatury dla detektorów wykrywających zakres UV i wykonanych z Si i 4H-SiC.

EN

UV, VIS i NIR detectors are used in scientific research and industrial and military applications. Measurement system used for spectral characteristic high-temperature measurements of UV, VIS and NIR is presented in the paper. The system was developed in the Military University of Technology (MUT). We present the results of a comprehensive study of the temperature dependences of the spectral characteristics for ultraviolet detectors based on Si and 4H-SiC structures. Measurement can be carried out in temperature range - from ambient temperature to 200°C.

Słowa kluczowe

PL

detektory UV; detektory VIS; detektory NIR; pomiary wysokotemperaturowe fotodetektorów; charakterystyka widmowa fotodetektora; półprzewodniki z szeroką przerwą zabronioną

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2010
• Tom: Vol. 51, nr 10
• Strony: 70--73
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Ćwirko R.

autor

Ćwirko J.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Strona główna National Institute of Standard and Technology (NIST): www.nist.gov
• [2] Z. Bielecki., W. Kołosowski, E. Sędek: High sensivity photoreceiver design. Facta Universitatis (NIŚ), Ser.: Electr. Energ. Vol 17, 2004, pp. 121-131.
• [3] Rogalski A.: Advanced Technologies in Development of Optical Detectors. Elektronika 12/2004, str. 12-19.
• [4] Ćwirko R.: Integracja eksperymentalnych metod badawczych do charakteryzacji wybranych materiałów i przyrządów półprzewodnikowych. Monografia. Redakcja Wydawnictw Wojskowej Akademii Technicznej. ISBN 978-83-61486-20-6. Warszawa 2009. Monografia - stron 237.
• [5] Gilewski M.: Wybrane zagadnienia pomiaru wpływu promieniowania UV na organizm ludzki. Krajowy Kongres Metrologii KKM’98, 15-18.09.1998, Gdańsk, ss. 346-353.
• [6] Bednarkiewicz A., Gacek R, Jaroński J.: Wykorzystanie światła niebieskiego do diagnostyki nowotworów i stanów przednowotworowych. Elektronika 3/2006, ss. 12-13.
• [7] Koren B.: Photodiodes: Ubiquitous components in today’s arsenal of smart weapons. Materiał informacyjny firmy Advanced Photonix, Inc, California, www.advancedphotonix.com, pp. 4
• [8] Joseph Ch.L.: UV Technology Overview. The State Univesity of New Jersey. Dep. of Physics & Astronomy, www.stsci.edu/sts- cl/meeting/space_detectors.pdf, pp. 1-8.