System do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego w szerokim zakresie temperatury

• Autorzy: Ćwirko R. , Ćwirko J.

Warianty tytułu

EN

A system for measurement spectral characteristics in wide temperature range

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono zaprojektowany i wykonany w Wojskowej Akademii Technicznej (WAT) system do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego UV, VIS i IR w szerokim zakresie temperatury od 10 K do 450 K. System pomiarowy umożliwia także badanie wpływu temperatury na charakterystyki szumowe detektorów.

EN

The paper presents an integrated system, developed at the Military University of Technology (MUT), used for measurements of spectral characteristic of UV, VIS, and IR detectors. The setup provides also the possibility of noise measurements in a wide temperature range - from 10 K to 450 K.

Słowa kluczowe

PL

system pomiarowy; detektory UV; detektory VIS; detektory IR; pomiary fazoczułe; pomiary kriogeniczne; charakterystyka widmowa fotodetektora

EN

measurement system; UV detectors; VIS detectors; IR detectors; lock-in detection; cryogenic mesurements; spectral response of photodetectors

• Wydawca: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 58, nr 2
• Strony: 407--417
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Ćwirko R.

autor

Ćwirko J.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-908 Warszawa, ul. S. Kaliskiego 2

Bibliografia

• [1] A. Rogalski, Advanced Technologies in Development of Optical Detectors, Elektronika, 12, 2004, 12-19.
• [2] A. Bednarkiewicz, P. Gacek, J. Jaroński, Wykorzystanie światła niebieskiego do diagnostyki nowotworów i stanów przednowotworowych, Elektronika, 3, 2006, 12-13.
• [3] N. Biyakli, T. Kartaloglu, O. Aytur, I. Kimukin, E. Ozbay, High speed visible blind GaN based indiumi-tin-oxide Schottky photodiodes, Applied Physics Letters, vol. 79, 17, 2001, 2838-2840.
• [4] J. Ćwirko, R. Ćwirko, Adaptacyjny system badawczy materiałów i przyrządów półprzewodnikowych, Przegląd Elektrotechniczny, 5, 2008, 265-268.
• [5] Katalog: The Newport Resource 2008/2009, www.newport.com
• [6] Diode Laser Drivers 06DLD 3xx Series, User Manual, Melles Griot. Photonics Components Group, USA, 2006, www.mellesgrit.com