Najnowsze osiągnięcia transmisyjnej mikroskopii elektronowej

• Autorzy: Dłużewski P.

Warianty tytułu

EN

Newest achievements in transmission electron microscopy

• Konferencja: Kongres Polskiego Towarzystwa Próżniowego ; Krajowa Konferencja Techniki Próżni (4 ; 8 ; 21-24.09.2008 ; Janów Lubelski, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) jest techniką powszechnie stosowaną do charakteryzacji ciał stałych w skali atomowej. Ostatnie lata przyniosły szybki postęp w tej dziedzinie badawczej spowodowany głównie gwałtownym rozwojem nanotechnologii. Najnowsze osiągnięcia TEM związane są z opracowaniem korektorów aberracji sferycznej soczewki magnetycznej oraz opanowaniem metod wytwarzania wysoko monochromatycznych wiązek elektronowych. Dzięki temu powstały nowe metody pomiarowe, takie jak wysokorozdzielcza skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa, mikroskopia z filtracją energii elektorów, spektroskopia strat energii elektronów.

EN

Transmission electron microscopy (TEM) is widely used for solid state species characterization in the atomic scale. Recently, a rapid development of this technique has place mainly due to the progress on the field of nanotechnology. Spherical aberration corrector and illuminating system with monochromator are two technical achievements caused newest in TEM progress. New methods like scanning transmission electron microscopy, energy filtered microscopy or electron energy lost speetroscopy were discovered for nanostruetres characterisation.

Słowa kluczowe

PL

transmisyjna mikroskopia elektronowa; korektor aberracji sferycznej; spektroskopia strat energii elektronów

EN

transmission electron microscopy; Cs corrector; EELS

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 50, nr 1
• Strony: 38--41
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Dłużewski P.

• Polska Akademia Nauk, Instytut Fizyki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Ruska E.: Nobel Lecture, 8 Dec. 1986, Stockholm, Postępy Fizyki tom 39, z. 1, s. 24-35, 1988.
• [2] David B. Williams, Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, (1996), p. 466.
• [3] Uhlemann S.: Maximilian Haider, Ultra microscopy 72 (1998) 109 D119.
• [4] Katsushige Tsuno, John Rouse, Journal of Electron Microscopy, (1996) 45 (5) pp. 417-427.
• [5] Rolf Erni, Nigel D. Browning, Ultra microscopy 107 (2007) 267-273.
• [6] Varela M., Findlay S. D., Lupini A. R., Christen H. M., Borisevich A.Y., Deliby N., Krivanek O. L., Nellist P. D., Oxley M. P., Allen L. J., Pennycook S. J.: Phys. Rev. Lett. vol. 92, no. 99, 95502 (Mar. 2004).
• [7] Ottaviano L. i in.: Surface Science 600 (2006), pp. 4723-1727.
• [8] Kujawa S., Freitag B., Hubert D.: An Aberration Corrected (S) TEM Microscope for Nanoresearch. FEI Company, Eindhoven, The Nether.