Identyfikatory
Warianty tytułu
Experimental analysis of interference etalon for laser diode laser wavelength stabilization
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawione zostały metoda pomiarowa i wyniki badań interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowił stabilizowany termicznie klin optyczny. W badaniach jako wzorzec częstotliwości wykorzystano stabilizowany częstotliwościowo laser He-Ne. W trakcie przeprowadzonych doświadczeń obserwowana była niestabilność fazy prążków powstałych w etalonie przy zmiennej temperaturze otoczenia. Uzyskano względną termiczną zmianę różnicy dróg optycznych etalonu na poziomie 2⋅10⁻⁸/°C zmiany temperatury otoczenia.
Measuring method and experimental results of the interference etalon designed for the purpose of laser diode frequency stabilization is presented. Thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. He-Ne wavelength stabilized laser has been used as the frequency reference. During experiments instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon has been observed when the ambient temperature was changed. The obtained relative thermal change of the optical path difference of the etalon is equal to 2⋅10⁻⁸/°C of the ambient temperature change.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
327--338
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., tab., wykr.
Bibliografia
- [1] M. Dobosz i in., Opracowanie interferometru laserowego do pomiaru przemieszczeń liniowych z diodą laserową stabilizowaną interferencyjnie, Raport z realizacji projektu badawczego KBN nr 5 T07D 005 25.
- [2] T. Y. Fan, J. L. Daneu, Thermal coefficients of the optical path length and refractive index in YAG, Applied Optics, vol. 37, 9, 1998, 1635-1637.
- [3] A. A. Zhmud, Differential Method of Diode Laser Wavelength Stabilization, Jpn. J. Appl. Phys., vol. 40, 2001, 5947-5948.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA9-0024-0021