Numeryczna symulacja interferometru multispektralnego do pomiaru długości płytek

• Autorzy: Wengierow M. , Sałbut L.

Warianty tytułu

EN

Numerical simulation of multispectral interferometer for measurement of gauge blocks length

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiony niżej tekst opisuje numeryczną symulację interferometru do pomiaru długości płytek. W artykule przedstawiono koncepcję generacji syntetycznych interferogramów oraz algorytmu automatycznej analizy obrazu, umożliwiającego uwzględnienie wpływu czynników związanych z warunkami otoczenia, szumami oraz konfiguracją układu interferometru, w celu wprowadzenia poprawek do ostatecznego wyniku pomiaru.

EN

The paper describes numerical simulation of a multispectral interferometer for gauge blocks length measurement. In the article we show a concept of synthesic interferograms generation and automatic fringe pattern analysis algorithm. This algorithm takes into account the influence of environmental conditions, noises and interferometer configuration itself. It allows us to add correction to final measurement results.

Słowa kluczowe

PL

pomiar długości; metoda reszt ułamkowych; interferometria multispektralna; płytki wzorcowe

EN

length measurement; residual fraction method; multispectral interferometry gauge blocks

• Wydawca: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 57, nr 2
• Strony: 195--204
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Wengierow M.

autor

Sałbut L.

• Politechnika Warszawska, Wydział Mechatroniki, Instytut Mikromechaniki i Fotoniki, 02-525 Warszawa, ul. Św. A. Boboli 8

Bibliografia

• [1] A. Pakuła, D. Łukaszewski, M. Wengierow, L. Sałbut, Interferometr multispektralny do pomiaru długości płytek wzorcowych klasy K, Metrologia wspomagana komputerowo, Waplewo, 2008.
• [2] F. Bayer-Helms, Ugięcie płytek wzorcowych przy poziomym ich ułożeniu na podporach nożowych, PTB Mitteilungen, 1-2, 1967.
• [3] K. Patorski, M. Kujawińska, L. Sałbut, Interferometria laserowa z automatyczną analizą obrazu, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2005.
• [4] Polska Norma PN-EN ISO 3650:2000, Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS). Wzorce długości. Płytki wzorcowe, Polski Komitet Normalizacyjny, sierpień 2000.
• [5] K. P. Birch, M. J. Downs [NPL], Letter to the Editor: Correction to the Updated Edlén Equation for the Refractive Index of Air Metrologia, 31, no. 4, 1994, 315-316.
• [6] K. P. Birch, M. J. Downs [NPL], An Updated Edlén Equation for the Refractive Index of Air Metrologia, 30, no. 3, 1993, 155-162.