Singular-optics approach for classification of the rough surfaces

• Autorzy: Angelsky O. , Burkovets D. , Maksimyak P. , Demyanovskii G.

Warianty tytułu

PL

Zastosowanie wirów optycznych do klasyfikacji powierzchni chropowatych

• Konferencja: International Conference Mechatronics 2004 (5 ; 23-25.09.2004 ; Warsaw, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

We show the applicability of the singular optical approach for classification of rough surfaces with large-scale inhomogeneities into random and fractal ones. The maps of amplitude zeroes of a field vs. the parameters of the rough surfaces and the position of the observation zone are obtained and analyzed. It is shown that the local density of amplitude zeroes in the scattered field may be considered as an appropriate parameter to classify the surface of interest into a surface with a height distribution that can be described as a random or a fractal structure.

PL

W referacie wykazano możliwość wykorzystania wirów optycznych do klasyfikacji powierzchni chropowatych o dużych nierównościach na powierzchnie przypadkowe oraz fraktalne. Uzyskiwane i analizowane są mapy zer amplitudowych pola na tle parametrów powierzchni chropowatych oraz umiejscowienia strefy obserwacji. Wykazano, że lokalną gęstość zer amplitudowych w polu rozproszonym można uznać za parametr odpowiedni do zaklasyfikowania interesującej nas powierzchni jako powierzchni o rozkładzie wysokości nierówności, które mogą być opisane jako struktura przypadkowa bądź fraktalna.

Słowa kluczowe

EN

rough surfaces; fractal; maps of amplitude zeroes; interferometry

PL

powierzchnie chropowate; fraktal; mapy zer amplitudowych; interferometria

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 45, nr 8-9
• Strony: 259--262
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., wykr.

Twórcy

autor

Angelsky O.

• Correlation Optics Dept, Chemivtsy University, Ukraine

autor

Burkovets D.

• Correlation Optics Dept, Chemivtsy University, Ukraine

autor

Maksimyak P.

• Correlation Optics Dept, Chemivtsy University, Ukraine

autor

Demyanovskii G.

• Dephis Ltd., Chernivsy, Ukraine

Bibliografia

• 1. He H., Heckenberg N.R. and Rubinsztein-Dunlop H. J. Mod. Opt. 1995, v . 42, p. 217.
• 2. He H ., Friese M. E. J., Heckenberg N. R. and Rubinsztein -Dunlop H. Phys. Rev. Letters. 1995, v. 75, p. 826.
• 3. Freund I., Shvartsman N. and Freilikher V. Optics Comm. 1993, v. 101, p. 247.
• 4. Angelsky O. V., Hanson S. G. and Maksimyak P.P. Use of Optical Correlation Techniques for Characterizing Scattering Objects and Media. PM71 SPIE Press, Bellingham, Wash. 1999.
• 5. Baranova N. B., Matveev A. V., Pilipetsky N. F. and Zel'dovich B. Ya. J. Opt. Soc. Am. 1983, V. 73, p. 525.
• 6. Angelsky O. V., Maksimyak P.P., Ryukhtin V. V. and Hanson S. G. Appl. Opt. 2001, v. 40, p. 5693.
• 7. Angelsky O. V., Burkovets D. N., Maksimyak P.P., and Hanson S. G. Appl. Opt. 2003, v. 42, p. 4529.
• 8. Goodman J. W.: lntroduction to Fourier Optics, McGraw-Hill Book Company, San Francisco, New York, St. Louis, Toronto, London, Sidney 1968.
• 9. Rytov S. M., Kravtsov Yu. A. and Tatarsky V. I. Principles of Statistical Radiophysics. Springer, Berlin 1989.
• 10. Nye J. F.: Natural focusing and fine structure of light. Bristol and Philadelphia 1999.
• 11. Soskin M. S., Vasnetsov M and Bassistiy I 1995 Proc. SPIE, v. 2647 p. 57.