Analysis of the tapping mode of the tip in dynamic atomic force microscope

• Autorzy: Majewski T. , Rymuza Z. , Chizhik S. , Pantelei S.

Warianty tytułu

PL

Analiza drgań kontaktowych próbnika w mikroskopie sił atomowych

• Konferencja: International Conference Mechatronics 2004 (5 ; 23-25.09.2004 ; Warsaw, Poland)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Dynamic Force Microscopy (DFM) utilizes vibrating probe tip to measure the topography or material properties of a sample. One end of the cantilever is driven by actuator and the tip on the opposite end impacts against the sample. We want to describe a tapping motion of the tip, obtain the correct formulas, and try to use them to define the mechanical properties of surface sample. The paper will present the relation between the excitation of the cantilever and the vibration of the tip.

PL

Dynamic Force Microscopy (DFM) wykorzystuje się do dynamicznego pomiaru kształtu powierzchni lub jej właściwości mechanicznych. Próbnik na końcu sprężyny uderza o powierzchnię. W pracy przedstawiono opis drgań próbnika i podano zależności między wymuszeniem jednego końca sprężyny a drganiami próbnika.

Słowa kluczowe

EN

AFM; vibrations; tapping mode; dynamic measuring mechanical properties

PL

AFM; drgania; uderzenia; pomiar dynamiczny własności mechanicznych

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 45, nr 8-9
• Strony: 228--231
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., wykr.

Twórcy

autor

Majewski T.

• Universidad de las Americas-Puebla, Mexico

autor

Rymuza Z.

• Warsaw University of Technology, Institute of Micromechanics and Photonics, Poland

autor

Chizhik S.

• National Academy of Sciences of Belarus, Minsk, Belarus

autor

Pantelei S.

• Belarussian State University, Minsk, Belarus

Bibliografia

• 1. B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka: Applied Scanning Probe Methods (Nanoscience and Technology), Springer Verlag, 2003.
• 2. R. Garcia, R. Perez: Dynamic Atomic Force Microscopy Methods, Surface Science Reports 47 (2002), Elsevier, 197-301.
• 3. M. Salapaka, D. J. Chen, J. P. Cleveland: Stability and Sensitivity analysis of periodic Orbits in Tapping Mode AFM, 37th IEEE Conference on Decision Control, Tampa, USA 1998.
• 4. S. l. Lee, S. W. Howell, A. Raman, R. Reifenberger: Nonlinear dynamics of microcantilevers in tapping mode AFM, Physical Review, B 66, 115409, 2002.
• 5. R. Stark, T. Drobek, W. Heckl: Tapping-mode force microscopy and phase-imaging in higher eigenmodes, Applied Physics Letters, V. 74, No. 22, 1999.
• 6. R. Strak, G. Schitter, A. Stemmer: Tuning the interaction forces in tap- ping mode AFM, Physical Review B68, 085401, 2003.
• 7. S. I. Lee, S. W. Howell, A. Raman, R. Reifenberger: Nonlinear dynamic perspectives on dynamic force microscopy, Ultramicroscopy 97 (2003), 195-198.