Metody symulacji w warunkach laboratoryjnych zniekształconych przebiegów prądowych i napięciowych występujących w sieciach energetycznych

• Autorzy: Chudorliński J. , Jaworski A. , Książek L.

Warianty tytułu

EN

Methods of simulating current and voltage waveforms ocurring in electrical networks

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pokazano próby wytworzenia sygnałów odkształconych w warunkach laboratoryjnych, co pozwoli na pełniejsze badanie urządzeń pomiarowo-zabezpieczających na etapie konstrukcji i badania modeli użytkowych. Badania mają na celu zwiększanie niezawodności, rozszerzanie zakresu funkcji i odporności na zakłócenia elektronicznych systemów pomiarowo-zabezpieczających, pracujących w obiektach energetycznych.

EN

The article presents methods of generation in laboratory of distorted waveforms used in testing of models of protection and measurement instruments. It results in better reliability, performance and higher noise immunity of measurment and protection systems designed for aplication in electrical power engineering.

Słowa kluczowe

PL

odkształcone sygnały w energetyce; dokładność pomiaru; generacja sygnałów odkształconych

EN

distorted waveforms in electrical power engineering; accuracy of measurements; generation of distorted signals

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 45, nr 12
• Strony: 81--83
• Opis fizyczny: Bibliogr. 2 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Chudorliński J.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Jaworski A.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Książek L.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• 1. Broda K., Chudorliński J.: Wyższe harmoniczne w energetycznych rozdzielniach przemysłowych zasilających napędy falownikowe. Wiadomości Elektrotechniczne, nr 12, 2003, s. 537-539.
• 2. Chudorliński J., Jaworski A., Rojek K.: Pomiary sygnałów odkształconych w energetycznych rozdzielniach przemysłowych oraz próby ich wytworzenia w warunkach laboratoryjnych. Elektronika, nr 12,2003, str. 42-44.